Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE TP 630 #293636352 à vendre en France

KLA/TENCOR/THERMA-WAVE TP 630 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie fabriqué par KLA et TENCOR. Ce système de pointe offre une combinaison unique de technologies de pointe multi-capteurs et de fonctions intelligentes de contrôle de la production. Il est spécialement conçu pour la fabrication de semi-conducteurs et des applications de recherche. KLA TP 630 est une unité entièrement automatisée avec un détecteur CCD intégré, une machine mécanique automatisée de manipulation des échantillons et une suite logicielle intelligente. Il offre une vaste gamme de capacités de métrologie, allant de la mesure d'un seul capteur à l'analyse multi-capteurs sophistiquée et multidimensionnelle à l'aide d'algorithmes avancés. Il dispose également d'un module de manipulation d'échantillons multi-sites unique et d'un contrôle de mouvement précis pour le positionnement précis des substrats et des échantillons sur l'étage de l'échantillon. TENCOR TP 630 emploie les dernières avances dans la technologie reflétante numérique IEEE-1394 et l'acquisition de signal avancée, le traitement et les technologies d'analyse. L'outil est capable de mesurer diverses propriétés électriques et optiques des matériaux semi-conducteurs, y compris la caractérisation des couches minces, la topographie et la nanostructure. Il offre une gamme de capacités de métrologie, allant de simples mesures électriques et optiques à des analyses complexes et multidimensionnelles. L'atout multi-capteurs de THERMA-WAVE TP 630 est capable de mesurer une grande variété de propriétés, telles que la surface, l'épaisseur, la résistivité et la constante diélectrique. Le modèle est également capable d'analyser des échantillons à travers plusieurs zones d'échantillonnage pour analyser avec précision des structures complexes. Il peut être configuré avec une variété de sondes, cadres de plaquettes et cartes de sonde adaptées à différentes applications. TP 630 offre également des capacités d'imagerie haute résolution, fournissant des images 2D et 3D détaillées de matériaux semi-conducteurs. Cet équipement est idéal pour mesurer, inspecter et analyser différentes formes géométriques et paramètres des matériaux. Il peut être utilisé dans la surveillance et la caractérisation de la dynamique des matériaux, comme la température, les processus de gravure sèche ou la lithographie par faisceau d'électrons. KLA/TENCOR/THERMA-WAVE TP 630 offre des performances et une précision inégalées, et peut être intégré avec des systèmes d'acquisition et d'analyse de données pour une productivité maximale. La conception et les caractéristiques avancées de ce système garantissent des résultats précis, même dans des conditions de processus extrêmes. Sa puissante suite logicielle permet aux ingénieurs et aux scientifiques d'analyser rapidement et avec précision leurs données et de prendre des décisions plus éclairées.