Occasion KLA / TENCOR / THERMA-WAVE TP 630XP #293759750 à vendre en France
URL copiée avec succès !
Appuyez sur pour zoomer
ID: 293759750
Style Vintage: 2008
Metrology system
Lamp housing
ANORAD Stage assy
Upper and lower drawer
Aligner
Front UI
Rear UI
(2) Lasers
(2) ASYST ISOPORT Load ports
KAWASAKI 3NX520B-A005 Robot
KAWASAKI Robot controller
(4) KINETIC SYSTEMS Vibraplane
Part number:
400076-04-0 055
400076-03-0055
400076-03-0055
400076-03-0055
PC
2008 vintage.
KLA/TENCOR/THERMA-WAVE TP 630XP est un équipement d'essai et de métrologie de pointe développé par le célèbre fabricant d'équipements semi-conducteurs KLA Corporation. Ce système de pointe combine l'expertise TENCOR en métrologie optique et technologie d'inspection avec la compétence THERMA-WAVE en métrologie à couches minces pour fournir une solution complète pour la fabrication de semi-conducteurs et le contrôle des processus. Au cœur de l'unité KLA TP 630XP se trouve un moteur de mesure optique sophistiqué qui utilise plusieurs techniques de mesure pour caractériser diverses propriétés des plaquettes à semi-conducteurs avec une grande précision et précision. La machine dispose de capacités avancées d'ellipsométrie spectroscopique, de réflectométrie et de scatterométrie, lui permettant d'effectuer une analyse détaillée de l'épaisseur du film, de sa composition, de sa rugosité et d'autres paramètres critiques avec une résolution sous-nanométrique. L'un des atouts clés de l'outil TENCOR TP630XP est sa capacité à fournir des mesures de métrologie non destructives en ligne à différentes étapes du processus de fabrication des semi-conducteurs. En intégrant l'actif directement dans la chaîne de production fab, les fabricants peuvent surveiller et contrôler le dépôt de film, la gravure et d'autres étapes de processus en temps réel, permettant une optimisation rapide du processus et l'amélioration du rendement. Le modèle THERMA-WAVE TP 630XP est équipé d'un équipement de détection hautement sensible qui permet de capter les changements subtils des propriétés optiques des couches minces et des substrats. Cette sensibilité permet au système de détecter les défauts, la contamination et les variations de processus à un stade précoce, contribuant à prévenir les pertes de rendement et à assurer la production de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité. En plus de ses capacités de métrologie, TP630XP unit est également conçu pour la cartographie des plaquettes et l'inspection des défauts. La machine peut générer des cartes haute résolution de l'uniformité de l'épaisseur du film, la morphologie, et d'autres propriétés sur toute la surface de la plaquette, fournissant des informations précieuses sur la variation du processus et la qualité de la plaquette. En outre, l'outil KLA/TENCOR/THERMA-WAVE TP630XP est entièrement automatisé et piloté par logiciel, permettant une configuration, un fonctionnement et une analyse des données faciles. L'interface conviviale de l'actif permet aux opérateurs de créer des recettes de mesure personnalisées, d'effectuer la visualisation des données et de générer des rapports complets avec une formation ou une expertise minimale. Le modèle KLA TP630XP est compatible avec une large gamme de matériaux et de procédés semi-conducteurs, ce qui le rend adapté à une utilisation dans la logique avancée, la mémoire et la fabrication de dispositifs optoélectroniques. Que ce soit dans un environnement de recherche et développement ou dans une ligne de production à haut volume, les équipements TENCOR TP 630XP offrent des capacités de métrologie inégalées pour répondre aux besoins évolutifs de l'industrie des semi-conducteurs. Dans l'ensemble, le système THERMA-WAVE TP630XP représente une solution de pointe pour les essais de plaquettes et la métrologie, offrant des capacités de mesure avancées, une surveillance des processus en temps réel et des fonctionnalités d'inspection des défauts dans une plateforme fiable et facile à utiliser. Avec ses technologies optiques avancées et ses capacités de mesure complètes, TP 630XP est un outil indispensable pour les fabricants de semi-conducteurs qui cherchent à obtenir des rendements plus élevés, une meilleure qualité et un délai de commercialisation plus rapide pour leurs appareils de pointe.
Il n'y a pas encore de critiques