Occasion KLA / TENCOR UV 1050 #293620485 à vendre en France
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ID: 293620485
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1995
Film thickness measurement system, 8"
Chuck, 8"
H2 Handler
(2) Base cassettes
Trackball and standard keyboard
CPU: 66 MHz
Storage capacity: 64M
GEM / SECS: SECS II
Operating system: Windows NT 4.0
Power supply: 120VAC, 50/60 Hz, Single phase
1995 vintage.
KLA/TENCOR UV 1050 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution intégrée pour le test et la métrologie des wafers de haute précision, permettant un meilleur contrôle des processus et l'analyse des données. Le système offre des mesures efficaces, précises et répétables, fournissant des informations critiques pour permettre des rendements élevés et une productivité accrue. KLA UV 1050 intègre une plate-forme d'étage de précision sous-nanométrique entièrement automatisée avec un moteur linéaire haute performance breveté. Cette commande de mouvement à grande vitesse assure une précision optimale du mouvement d'étage tout en étendant la dynamique de l'unité, permettant la mesure de grandes plaquettes à grande vitesse. TENCOR UV 1050 est également équipé d'une machine de positionnement de plaquettes quadrangulaires unique, qui permet de positionner avec précision différentes formes de plaquettes jusqu'à 300 mm sur le substrat pour une analyse plus approfondie. Cette précision accrue permet de minimiser les pertes de rendement et d'améliorer la qualité des produits finis. La plate-forme UV 1050 contient des systèmes optiques de pointe, offrant des performances de calibre mondial pour les mesures planaires et tridimensionnelles (3D). L'outil permet de mesurer des paramètres dépendants de la température tels que la contrainte et la contrainte sur les surfaces des plaquettes ainsi que les topographies 3D et les mesures de caractéristiques. De plus, la plate-forme contient une vaste gamme de fonctions intégrées liées à la caractérisation des appareils, telles que les caractéristiques à faible contraste et la mesure des motifs, les zones inter-filières, l'analyse de fonctionnement et la moyenne des voitures-caisses. En outre, la plate-forme UV 1050 KLA/TENCOR est équipée de capacités de métrologie avancées, ce qui lui permet d'analyser efficacement les couches minces, les couches CMP et la contrainte volumétrique sur les plaquettes. En outre, le modèle intègre une gamme complète d'outils et d'algorithmes automatisés, offrant une répétabilité et une précision supérieures tout en permettant un débit de productivité élevé. KLA UV 1050 est logé dans un emballage compact et modernisé qui permet une installation facile en salle blanche et dans des environnements de production. En outre, l'équipement offre des performances et une vitesse supérieures sans sacrifier l'ergonomie de l'utilisateur, avec une interface graphique facile à utiliser et une approche de programmation simple. Dans l'ensemble, TENCOR UV 1050 Wafer Testing and Metrology System offre une solution fiable et rapide pour les tests et la métrologie des wafers. Les caractéristiques d'amélioration de la performance et la précision inégalée de l'unité fournissent aux utilisateurs des informations clés sur les performances des plaquettes, permettant une plus grande productivité et conduisant à un meilleur rendement et revenu.
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