Occasion KLA / TENCOR XT+ #9144986 à vendre en France

KLA/TENCOR XT + est l'un des systèmes d'essai et de métrologie de plaquettes les plus avancés de l'industrie. Il fournit des capacités puissantes d'imagerie, d'analyse et de métrologie pour mesurer et inspecter les plaquettes. Grâce à sa technologie de pointe et à son interface utilisateur intuitive, il permet aux utilisateurs de déterminer et de résoudre rapidement les problèmes de processus et de structure. L'équipement KLA XT + utilise une technologie optique non destructive exclusive et son outil automatisé intégré d'examen des défauts pour offrir des performances supérieures en essais de plaquettes et en métrologie. Un système d'éclairage LED haute résolution fournit des retours d'inspection de qualité en temps réel avec des mesures répétables et précises pour garantir des normes de production de qualité. L'unité haute performance dispose d'une machine intégrée d'acquisition et de traitement d'images, d'alignement et de focalisation de précision, et d'outils d'imagerie flexibles. Il utilise des algorithmes avancés et l'apprentissage automatique pour détecter et mesurer les imperfections et autres résultats enregistrables tels que l'épaisseur du film, la granulométrie, la taille des grains, les micro-défauts, la contamination, les niveaux de contamination, la topographie de surface et les défauts tels que les micro-/nano-fissures. De plus, l'outil TENCOR XT + offre des capacités avancées pour optimiser l'alignement de la matrice, l'analyse des fonctionnalités et la correction de la superposition. En outre, il est également capable de fournir une analyse statistique complète avec des résultats qui peuvent être utilisés pour développer le contrôle statistique des processus (RCP). L'interface utilisateur intuitive de l'actif, associée au logiciel intégré Analyzer, permet aux utilisateurs d'accéder rapidement aux données critiques et de les évaluer, ce qui permet une caractérisation plus complète et plus approfondie des plaquettes. Le modèle XT + est un incontournable pour les tests de wafer et les applications de métrologie. Ses capacités avancées aident les utilisateurs à surveiller et optimiser le processus de production des plaquettes, ce qui entraîne un rendement plus élevé et une réduction des coûts de fabrication. En outre, ses capacités de performance complètes permettent aux utilisateurs de déterminer et de résoudre rapidement les problèmes de processus et de structure des wafer.