Occasion KLA / TENCOR Zeta 20 ZFT #9307818 à vendre en France

KLA/TENCOR Zeta 20 ZFT est un système d'essai et de métrologie des plaquettes fournissant des données précises pour l'inspection, l'analyse et la détection des défauts des plaquettes à l'échelle de la production. Il combine des outils avancés d'inspection et de métrologie pour fournir des résultats fiables pour des rendements élevés dans la fabrication de semi-conducteurs. Les composants de base de KLA Zeta 20 ZFT comprennent un numériseur d'image puissant, la reconnaissance quantitative des motifs, un appareil photo numérique haute résolution, et des capacités avancées de cartographie des plaquettes. Le numériseur mesure les défauts avec une grande précision basée sur l'intensité lumineuse, les algorithmes de reconnaissance de motifs identifient les projections des défauts, et la caméra fournit des images haute résolution pour que les défauts puissent être déterminés avec précision. Les capacités avancées de cartographie des plaquettes permettent de cartographier la surface d'une plaquette en temps réel et de déterminer l'orientation optimale de la plaquette pour de bons résultats d'inspection. TENCOR Zeta 20 ZFT offre une variété d'options de numérisation et de métrologie en temps réel, y compris l'auto-comparaison/auto-analyse, l'analyse de précision, la détection aléatoire des défauts, les tests de dimension critique et la filtration des erreurs Z. La fonction Auto-Compare/Auto-Analyze fournit une cartographie rapide des défauts pour déterminer le placement optimal pour les mesures de dimensions critiques. Le mode Analyse de précision permet une détection rapide et précise des défauts en créant des images haute résolution des tranches d'échantillons. Détection aléatoire des défauts utilise un algorithme pour détecter et classer automatiquement les défauts aléatoires sur la plaquette. Enfin, Critical Dimension Testing fournit des mesures de haute précision pour des motifs complexes afin de déterminer les dimensions critiques de la fonctionnalité. En outre, Zeta 20 ZFT utilise la filtration par erreur Z avancée pour détecter et filtrer toute information indésirable telle que les variations statistiques, les effets transversaux, les interférences électriques et le bruit sur la plaquette. Cela garantit que des résultats de haute précision par rapport aux itérations antérieures de la technologie. En résumé, KLA/TENCOR Zeta 20 ZFT est un puissant système de test et de métrologie de plaquettes conçu pour assurer des rendements élevés dans la fabrication de semi-conducteurs. Il intègre des numériseurs d'images de pointe, la reconnaissance de motifs, les caméras numériques, et la technologie avancée de cartographie des plaquettes pour fournir des résultats précis. Il offre également de nombreux modes de numérisation et de métrologie pour répondre à l'évolution des besoins de production. Enfin, la technologie avancée de filtration par erreur Z améliore encore la précision des données.