Occasion KLA / TENCOR Zeta 20 #293779066 à vendre en France

KLA/TENCOR Zeta 20 est un équipement avancé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour une inspection précise de la qualité des plaquettes semi-conductrices. Il est alimenté par une technologie brevetée de moteur rotatif optique sans contact (NORM) et est capable d'effectuer des mesures efficaces et rapides sur les surfaces et les bords des plaquettes. Le système peut détecter des caractéristiques jusqu'à 0,2 µm, ce qui permet à l'utilisateur de contrôler et de surveiller la formation des plaquettes pendant la fabrication et le test de contamination. L'unité utilise un dispositif de positionnement optique très efficace et précis pour faire tourner la plaquette lors de l'inspection. Cela permet de mesurer avec précision les caractéristiques de longueur et de largeur. Le moteur est capable de fournir jusqu'à 400 séries de mesures multiples de deux côtés d'une plaquette en un point donné. Il comprend également un réseau amélioré de diodes électroluminescentes (LED) pour fournir un éclairage uniforme de la surface cible pour l'imagerie précise. La machine comprend également une étape de filtrage précise, permettant de détecter avec précision des paramètres clés tels que la forme des plaquettes et la rugosité de surface. Tous les résultats peuvent être consultés sur l'écran graphique convivial de l'outil. L'actif est conçu pour être très fiable, et est capable de produire des résultats répétables. Il est également conçu pour interagir avec des systèmes de métrologie standard, permettant le transfert de données entre différents instruments. Le modèle dispose également d'une gamme de fonctions automatisées, y compris la détection de changement de contraste et le réglage automatique de l'alarme. Cela permet d'augmenter l'efficacité et d'améliorer la précision en informant automatiquement l'utilisateur lorsque les valeurs détectées se situent en dehors de la plage spécifiée. L'équipement KLA Zeta 20 est un outil puissant et fiable pour l'inspection et la métrologie des plaquettes semi-conductrices. Ses fonctions de précision et d'automatisation contribuent à augmenter la productivité et à améliorer le contrôle de la qualité des dispositifs semi-conducteurs.