Occasion KOKUSAI VR-70 #9051391 à vendre en France
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ID: 9051391
Taille de la plaquette: 6"
Style Vintage: 1990
Metrology system, 6"
1990 vintage.
KOKUSAI VR-70 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour les essais de production en ligne de plaquettes. Il est équipé d'un système de mesure avancé des plaquettes qui permet des mesures 2D et 3D précises des circuits intégrés (IC). L'unité permet une inspection complète des plaquettes et des mesures de surface à grande vitesse et avec une grande précision. La machine est adaptée pour les lignes de production de semi-conducteurs et les laboratoires, avec un haut débit et un contrôle de précision. VR-70 peut accueillir des plaquettes jusqu'à 8 pouces de diamètre et dispose d'un scanner laser sans fente qui permet une précision de résolution sous-micron pour les mesures 2D et 3D. L'outil est capable de saisir à l'aide d'un microscope optique à la fois des données de topologie de surface et de topologie interne, et de collecter des informations d'essais électriques sans contact (RDT) de dispositifs sur la surface de la plaquette. Il est également équipé d'un microscope numérique haute résolution qui permet l'observation et l'analyse précises des différents appareils lors du balayage. KOKUSAI VR-70 comprend une application d'évaluation et d'analyse d'images en ligne pour identifier rapidement et avec précision les défauts ou les points de contrôle de rendement sur les plaquettes de différents types. L'actif possède également des capacités de numérisation en mode « die-to-die » qui permettent des mesures automatisées et cohérentes des étapes intermédiaires du processus ainsi que de la performance du produit. Cela permet aux fabricants d'ajuster et de contrôler le processus rapidement et avec précision. VR-70 fournit une solution complète de caractérisation des plaquettes, y compris des mesures d'épaisseur et de rugosité de surface de grande précision, pour la production et le développement des procédés. Son infrastructure avancée de capture de données permet la mesure statique et dynamique des wafers et des appareils. Le modèle est également compatible avec de nombreux logiciels de métrologie et d'imagerie standard de l'industrie, permettant l'acquisition et l'analyse de données efficaces. Enfin, KOKUSAI VR-70 offre un large éventail d'outils de visualisation et de reporting pour améliorer l'analyse des défauts des plaquettes et le contrôle des rendements. Il est équipé de la capacité d'enregistrement et de notification des défauts pour le contrôle proactif des processus. L'équipement prend également en charge la sauvegarde et le stockage automatiques des données sur une base de données externe pour assurer la traçabilité à long terme et l'intégrité des données.
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