Occasion KVM 4030C #293651246 à vendre en France

KVM 4030C Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de test et de métrologie de wafer de pointe idéal pour les applications à semi-conducteurs et à panneaux plats. Cette unité offre une fiabilité, une précision et une répétabilité des données sur l'ensemble du processus de test de la plaquette, depuis le test de l'échantillon jusqu'à la fin de vie. 4030C permet de sonder la tension et le courant. Cela permet de tester les deux paramètres simultanément. La machine offre également une option de combinaison multi-fréquence et multi-phase pour une collecte de données plus précise et fiable. Il s'agit d'un outil complet de test et de métrologie. KVM 4030C comprend divers sous-systèmes tels que la chambre de sonde, le bloc de mesure, l'unité de traitement du signal (SPU) et l'électronique à balayage. La chambre de sonde est équipée d'un outil de chargement et de déchargement automatisé, permettant un chargement, un déchargement et une manutention plus rapides des plaquettes. Le bloc de mesure abrite les étages d'alignement, un système de contrôle multifréquence et de phase et une interface de contrôle informatique multicanal. L'unité de traitement du signal est un modèle d'acquisition de données numériques à haut débit qui permet de mesurer avec précision les paramètres de tension et de courant. L'électronique de balayage comprend une caméra CCD, le traitement du signal numérique, et une table XY, permettant des capacités de balayage de plaquettes précises et efficaces. 4030C est conçu pour améliorer le débit et la précision et est capable de tester une large gamme de tailles de plaquettes, allant de 5 pouces à 12 pouces. Ses étages de précision et ses gobelets à doigts allongés permettent d'ajuster la tête de la sonde et permettent aux utilisateurs de tester des régions proches des bords. Il offre également des sondes automatisées entre 40 et 100 sondes. L'équipement est capable de balayer la longueur d'onde de 240nm à 850nm, avec des valeurs multi-phases et multi-fréquences jusqu'à 5 kHz. KVM 4030C offre une facilité d'utilisation et est compatible avec une large gamme de logiciels et de langages de contrôle, tels que C++, C #, WinForms, BenchLink Pro d'Agilent et Measurement Studio pour faciliter la programmation, les tests et la collecte de données. En résumé, 4030C Wafer Testing and Metrology System est une unité complète et facile à utiliser idéale pour les applications à semi-conducteurs et à panneaux plats. Il offre des données fiables et de haute précision sur un large éventail de tailles de plaquettes, et est compatible avec une variété de logiciels et de langages de contrôle.