Occasion KYOWA CA-X150 #9394658 à vendre en France

KYOWA CA-X150
ID: 9394658
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KYOWA CA-X150 Wafer Testing and Metrology Equipment est le dernier instrument de test conçu pour soutenir les applications de test et de métrologie des wafers. KYOWA, chef de file du secteur des solutions d'essai et de métrologie, a conçu le système pour rationaliser les mesures d'essai et de métrologie des plaquettes, réduire le temps d'essai et accroître le contrôle des processus. CA-X150 est une plate-forme intégrée qui combine la recherche de plaquettes, le développement de méthodes d'essai, le contrôle de programme et la métrologie dans une machine. Cela permet d'économiser du temps et de l'argent en éliminant le besoin de machines multiples. L'unité dispose de sondes de haute précision, de logiciels avancés et d'une série d'outils d'analyse, qui permettent aux utilisateurs de développer et d'analyser rapidement et avec précision les résultats des tests. KYOWA CA-X150 est équipé d'une variété de sondes pour tester des matériaux classiques et non conventionnels. Une gamme de sondes de précision, électrique, électrique-thermique, optique et de microscopie à force (FMM) permet de tester un large éventail de matériaux avec une précision inégalée. Grâce au traitement avancé du signal numérique, les utilisateurs peuvent capturer des signaux à petite échelle et mesurer avec une grande précision. La machine comprend également une gamme de technologies d'interconnexion, qui permettent aux utilisateurs de relier plusieurs sondes et de faire des mesures complexes. CA-X150 dispose également d'une interface utilisateur intuitive avec des outils graphiques faciles à utiliser, permettant aux utilisateurs de développer rapidement des méthodes de test précises et d'analyser les résultats. Les utilisateurs peuvent rapidement créer, modifier et exécuter des tests avec des entrées minimales. L'outil est équipé de la table de test optimisation, qui peut générer automatiquement la configuration de test idéale et réduire le temps de test. De plus, des outils intégrés d'analyse statistique permettent aux utilisateurs de réaliser rapidement une analyse des tendances et d'évaluer la conformité des produits. KYOWA CA-X150 est compatible avec les systèmes de contrôle de la production les plus courants et peut être intégré dans les lignes de production au besoin. Cela en fait un excellent choix pour les programmes de test automatisés et les applications de contrôle de processus. Dans l'ensemble, CA-X150 Wafer Testing and Metrology Asset est une plateforme puissante et polyvalente qui offre aux utilisateurs des capacités de test et de métrologie inégalées. Les caractéristiques technologiques avancées et le design élégant du modèle en font un choix idéal pour les utilisateurs d'une gamme d'industries.
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