Occasion LAKESHORE 7507 #9410569 à vendre en France

LAKESHORE 7507 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise des capteurs intégrés, des transducteurs et de l'électronique pour mesurer et contrôler avec précision les essais des plaquettes de semi-conducteurs. Le système permet de contrôler l'environnement des plaquettes jusqu'à 6 pouces de taille. L'unité dispose de systèmes optiques avec deux détecteurs sensibles à la position (PSD) intégrés, permettant l'alignement et l'enregistrement automatiques des plaquettes. Cela garantit la précision et la répétabilité des plaquettes. Les systèmes optiques offrent également des capacités de micromètre laser pour l'inspection de profils de surface complexes. La machine est équipée de systèmes de commande de mouvement qui peuvent mesurer et contrôler le déplacement XYZ. Cela permet le transport automatisé des plaquettes, la cartographie et l'indexation ainsi que la répétabilité des plaquettes et des processus. 7507 offre des capacités de régulation de température avec des chauffages thermoélectriques et des capteurs de température pour garantir la précision et la stabilité du processus. Ce contrôle de la température et de l'environnement d'essai sont essentiels pour garantir l'exactitude des résultats de mesure. L'outil est également équipé d'alimentations de polarisation, d'amplificateurs et de convertisseurs A/D pour permettre le jaugeage de l'épaisseur de la plaquette, la mesure de la planéité et la détection des défauts structurels ou des caractéristiques. Le stockage interne de données et une interface VME-bus permettent une flexibilité dans le transfert de données et l'intégration avec d'autres systèmes. LAKESHORE 7507 est un atout fiable, précis et polyvalent pour les essais de plaquettes et la métrologie. Utilisant une suite intégrée de technologies matérielles et logicielles, ce modèle est capable de tester plusieurs paramètres simultanément, en veillant à ce que les mesures soient répétables et traçables pour le développement et la production de processus.