Occasion LEHIGHTON 1500-RS #293663340 à vendre en France

LEHIGHTON 1500-RS est un équipement d'essai et de métrologie avancé conçu pour fournir des mesures précises et fiables des films minces, des substrats et d'autres matériaux semi-conducteurs. Le système est capable de mesurer l'épaisseur, la rugosité de surface, la réflectance et d'autres propriétés électriques avec une grande précision. Construit à l'aide de techniques d'interférométrie laser de pointe, 1500-RS est un outil puissant pour mesurer les couches minces et les substrats jusqu'à des résolutions de sous-microns. LEHIGHTON 1500-RS utilise une unité de métrologie optique sans contact qui signifie que l'interface entre la plaquette/matériau et la sonde n'est pas nécessaire pour les essais. Ceci élimine la nécessité de réaliser une étanchéité entre la plaquette et la sonde qui est critique pour la métrologie de contact classique. Ainsi, cette machine peut mesurer des couches minces et des substrats dans diverses conditions, comme sur des substrats en rotation ou en présence de contaminants incontrôlables. L'outil est également compatible avec une large gamme de matériaux de substrat, notamment le silicium polycristallin, le nitrure de silicium, l'oxyde polycristallin, le germanium, l'arséniure de gallium et les composés III-V. De plus, 1500-RS est capable de mesurer l'épaisseur du film jusqu'à 0,1nm, ce qui le rend apte à mesurer les couches minces et les surfaces sous-microns. L'actif est également optimisé pour tester des surfaces non métalliques très réfléchissantes ainsi que des matériaux fortement texturés et structurés. Le modèle LEHIGHTON 1500-RS est alimenté par un équipement de commande ultra-rapide et permet de mesurer une grande variété de paramètres avec vitesse et précision. Il dispose également d'une interface utilisateur intuitive, ce qui le rend facile à configurer et programmer des séquences de mesure sophistiquées. Le logiciel d'analyse intégrée permet d'analyser et d'interpréter rapidement les résultats, qui peuvent être visualisés sous forme de graphiques, d'histogrammes et d'autres représentations de données. 1500-RS est un système d'essai et de métrologie de plaquettes très puissant et fiable, adapté à diverses applications telles que l'évaluation de la qualité des substrats minces pour les dispositifs semi-conducteurs, la mesure de la rugosité de surface et l'évaluation de la composition des films minces électroniques. Cette unité est garantie pour fournir une excellente performance et précision, permettant un test rapide et précis des couches minces et des surfaces.