Occasion LEHIGHTON 1510C-RP #293608868 à vendre en France

L'équipement d'essai et de métrologie des plaquettes LEHIGHTON 1510C-RP est un outil de métrologie de haute précision conçu pour le traitement et l'inspection des plaquettes semi-conductrices. Ce système permet aux fabricants et aux testeurs d'analyser et de mesurer diverses propriétés des plaquettes, ainsi que de détecter la contamination et les défauts. 1510C-RP est une unité autonome entièrement automatisée qui peut inspecter et analyser avec précision les propriétés physiques, les propriétés électriques et les caractéristiques optiques de tous les types de plaquettes semi-conductrices jusqu'à 12 ″ (300 mm) de diamètre. Il combine une gamme de capteurs spécialisés et de microscopes optiques, ainsi qu'une machine d'acquisition de données, pour mesurer rapidement et avec précision une variété de caractéristiques d'une plaquette sans nécessiter d'intervention de l'opérateur. LEHIGHTON 1510C-RP supporte une gamme de sondes et de matériaux de substrat tels que l'oxyde de silicium, le nitrure de silicium, le carbure de silicium, le silicium polycristallin dopé à l'oxygène et l'oxyde de silicium lourd. En outre, l'outil peut être configuré pour détecter une gamme de défauts et de contaminants, tels que les particules, les résidus, la contamination, les défauts, et plus encore. Cela garantit des résultats de haute qualité et garantit la sécurité des plaquettes pour un traitement ultérieur. 1510C-RP soutient également une gamme complète de modes d'essai, y compris les essais non destructifs et destructifs et une variété de techniques d'analyse des défaillances. LEHIGHTON 1510C-RP comprend deux plates-formes indépendantes et interchangeables, une pour l'inspection et une pour la caractérisation. La plate-forme d'inspection effectue les tâches d'essai les plus élémentaires et critiques, telles que les mesures de hauteur de focalisation et de dimension critique, tandis que la plate-forme de caractérisation effectue des essais plus spécialisés, tels que les mesures de capacité et les essais de mobilité des porteurs. Cela permet aux utilisateurs de configurer et d'adapter l'actif de manière flexible en fonction des besoins particuliers de leur application. En outre, 1510C-RP offre un large éventail de fonctionnalités pour simplifier le processus de test et de métrologie, telles que le traitement automatisé des plaquettes, les contrôles de continuité, l'acquisition automatisée de données et le contrôle d'accès à distance. Cela permet de réduire le temps d'essai global et d'augmenter la précision. LEHIGHTON 1510C-RP est la solution idéale pour les fabricants, les testeurs et les chercheurs à la recherche d'un modèle fiable et performant d'essais de plaquettes et de métrologie. Son large éventail de caractéristiques et ses capacités multifonctionnelles offrent une plate-forme idéale pour l'inspection des plaquettes de base et des tâches d'analyse complexes. En outre, son rapport coût-efficacité et son fonctionnement simple en font un choix attrayant pour les laboratoires et les installations de production.