Occasion LEHIGHTON 1510C #9101496 à vendre en France

LEHIGHTON 1510C Wafer Testing and Metrology Equipment est un système d'essai de wafer de qualité de production utilisé pour détecter, analyser et mesurer les défauts de surface sur les wafers semi-conducteurs. Cette unité utilise une technologie d'inspection laser à haute vitesse pour fournir des mesures précises et répétables. L'optique laser de pointe 1510C lui confère des performances d'imagerie supérieures, offrant une résolution maximale de détection des défauts de surface de 250nm. En outre, la capacité de l'appareil photo numérique lui permet de capturer des images claires de tous les défauts avec une résolution de 100 000 pixels. Cet outil a une conception très modulaire avec de nombreuses fonctionnalités qui en font un choix attrayant pour les applications de test au niveau de la production. Ses composants primaires sont constitués d'une tête laser, de deux objectifs, d'un bras de focalisation, d'un manipulateur optique et d'un étage de plaquette motorisé. Ces composants sont conçus pour travailler ensemble pour détecter et analyser les imperfections de la surface de la plaquette. LEHIGHTON 1510C est également livré avec une variété d'outils logiciels de métrologie. Ces outils permettent aux utilisateurs de calibrer leurs systèmes d'imagerie et de mesurer avec précision les défauts détectés. Cet actif supporte différentes méthodes de mesure, y compris la profilométrie optique, qui est une capacité importante pour les applications de contrôle de processus au niveau de la production. 1510C modèle offre également une suite complète de fonctions de test automatisé de plaquettes. Ces caractéristiques comprennent un équipement d'autofocus, un système de reconnaissance automatisé et des capacités avancées de classification des défauts. Ces caractéristiques facilitent l'identification et l'analyse des défauts, améliorant ainsi l'efficacité du processus de test. Dans l'ensemble, LEHIGHTON 1510C Wafer Testing and Metrology Unit offre une plate-forme fiable pour les essais de wafer au niveau de la production. Ses composants polyvalents, ses fonctionnalités automatisées et ses outils logiciels de métrologie aident à rationaliser le processus de test des plaquettes, ce qui en fait une option attrayante pour toute organisation cherchant une solution de détection des défauts très efficace.