Occasion LEHIGHTON 1510E-RP #9288297 à vendre en France

LEHIGHTON 1510E-RP est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des mesures avancées et précises de structures en couches minces. Il a une approche modulaire qui supporte une variété de mesures électriques, optiques et acoustiques, ainsi que la capacité de déprocédage compatible ultra-haut vide (UHV). Il dispose d'une plate-forme à prober construite sur un étage X-Y-Z 3 axes pour un positionnement précis et précis. Le prober travaille en conjonction avec un cube de métrologie avancée, donnant accès à un large éventail de mesures et de paramètres. Le cube avancé de métrologie combine un microscope à force atomique de laboratoire (AFM) avec un microscope électronique à balayage (SEM) et un ellipsomètre. Cette combinaison permet des mesures quantitatives de diverses structures de couches minces, y compris la densité de dépôt et la couverture de surface. Bien que SEM et AFM fournissent un aperçu précieux de la structure du film mince, l'ellipsomètre permet à un utilisateur de mesurer plus précisément l'épaisseur du film mince. En outre, ce système est équipé d'un four à pointes STM, permettant un déprocessage compatible UHV des échantillons. 1510E-RP unité est capable d'acquisition, d'étalonnage et d'analyse de données pour fournir une analyse complète des structures de couches minces. La machine est équipée d'une variété d'outils logiciels pour le traitement et l'analyse de données pour un large éventail de substrats. Il peut être intégré avec une variété d'utilitaires logiciels pour un traitement rapide et efficace, pour aider à fournir des aperçus et des résultats rapides pour une variété d'expériences liées aux films minces. L'outil de test et de métrologie LEHIGHTON 1510E-RP dispose d'une interface conviviale, avec des menus intuitifs et des affichages graphiques. Avec ses fonctionnalités automatisées, il est facile à mettre en place et à utiliser, ce qui rend cet atout adapté aux débutants comme aux experts. En outre, il peut être utilisé à distance sur une connexion Ethernet, ce qui en fait un outil polyvalent pour les chercheurs et les utilisateurs commerciaux. Dans l'ensemble, 1510E-RP wafer testing and metrology model est une plateforme conviviale, modulaire et polyvalente pour analyser les structures de couches minces. Avec sa combinaison complexe de matériel et de logiciels, il fournit une analyse complète d'une variété d'expériences liées aux films minces. Il convient à la fois aux experts et aux utilisateurs novices, et peut facilement être intégré avec une variété de logiciels et d'outils d'exploitation à distance.