Occasion LEICA LTD 800 #9278377 à vendre en France

LEICA LTD 800 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour les lignes de production de semi-conducteurs. Il fournit une solution efficace et précise pour la détection et la mesure des défauts dans une variété de substrats, y compris le silicium, le quartz, l'aluminium et la céramique. Le système est composé d'un microscope optique haute résolution, d'une tête d'échantillonnage et d'un logiciel spécialisé pour l'analyse d'images. Le microscope est équipé d'un appareil photo numérique haute résolution pour l'imagerie et le balayage des plaquettes. La tête de prélèvement comprend un mécanisme de rotation et d'inclinaison à 90 degrés, lui permettant de capturer avec précision des images multi-angles de surfaces de plaquettes pour une détection précise des défauts. Le microscope intègre également jusqu'à quatre objectifs individuels pour effectuer des analyses à différents grossissements, ce qui permet de mesurer à la fois les gros et les petits défauts. Le logiciel utilisé par LTD 800 fournit un certain nombre de fonctionnalités qui permettent la détection et la mesure précise des défauts. L'unité fournit une variété d'algorithmes d'amélioration d'image pour améliorer le contraste et permettre une meilleure définition des défauts. En outre, il fournit un mode de détection automatisée des défauts, lui permettant de détecter et de mesurer automatiquement les défauts sur la base de critères prédéfinis. La machine est également livrée avec un mode de balayage spécialisé pour le contrôle des plaquettes avec des films minces. Ce mode comprend des algorithmes de détection et de mesure de divers types de défauts basés sur l'analyse d'image. L'outil offre également des visualisations 3D de la plaquette et des défauts, assurant une précision améliorée et une localisation plus facile des défauts. Enfin, LEICA LTD 800 offre également une gamme de capacités de rapport et d'archivage, permettant aux utilisateurs de stocker et de récupérer facilement les résultats des inspections. L'actif est également extensible, avec la compatibilité avec d'autres systèmes et le support d'accessoires supplémentaires. Ces fonctionnalités offrent aux utilisateurs une solution complète pour la détection des défauts et la métrologie dans les lignes de production de semi-conducteurs.