LEITZ (Test de Wafer et métrologie) d'occasion à vendre

LEITZ est un fabricant leader d'équipements d'essai et de métrologie de plaquettes largement utilisés dans l'industrie des semi-conducteurs. Leur gamme de produits comprend des analogues, tels que leurs ellipsomètres spectroscopiques avancés (ASE), qui offrent des capacités de mesure précises pour la caractérisation des couches minces. Ces systèmes offrent des avantages tels que des essais rapides, non destructifs et une caractérisation précise des épaisseurs de film, des indices de réfraction et de la rugosité de surface. Un système de test de plaquettes populaire de LEITZ est le LIS (Leitz Integrated System), qui combine plusieurs techniques de mesure, dont l'ellipsométrie spectroscopique, la réflectométrie et la scatterométrie. Le système LIS permet une inspection et une caractérisation complètes des plaquettes, garantissant la haute qualité et la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs. À des fins de métrologie, LEITZ propose le MPV-SP (Multi Purpose Spectral Reflectometer). Ce système offre des capacités de mesure rapides et précises pour l'épaisseur du film, l'indice de réfraction et les dimensions critiques. Le MPV-SP est couramment utilisé pour le contrôle et l'optimisation des procédés dans la fabrication de semi-conducteurs. LEITZ propose également la série SP (Spectroscopic Ellipsometer), qui offre des capacités de mesure de haute précision pour les épaisseurs de film et les constantes optiques. Ces unités sont conçues pour répondre aux exigences exigeantes des différents procédés de fabrication des plaquettes. Dans l'ensemble, les machines d'essai et de métrologie LEITZ sont réputées pour leur technologie de pointe, leurs mesures précises et leurs performances fiables, aidant les fabricants de semi-conducteurs à améliorer leur rendement, à améliorer le contrôle des processus et à satisfaire aux normes de qualité toujours plus élevées de l'industrie.