Occasion MAGNETRON / CLIOTEK 2000 parse #9384885 à vendre en France

MAGNETRON / CLIOTEK 2000 parse
ID: 9384885
Optical thin film measurement system.
CLIOTEK 2000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour des essais rapides et précis de matériaux semi-conducteurs. Le système utilise une optique de haute précision, des conceptions structurelles et une large gamme de capteurs pour évaluer la qualité et la fonctionnalité des wafers. L'unité utilise une approche multi-niveaux pour le traitement et l'analyse des données, lui permettant de générer rapidement des rapports avec des performances en temps réel. La machine utilise un mélange innovant de technologies de mesure optique, électrique et mécanique qui lui permettent de mesurer l'épaisseur et l'uniformité du matériau de la plaquette d'une manière extrêmement précise. La technologie optique de l'outil offre plus de précision et de répétabilité que les autres systèmes, ce qui lui permet de mesurer avec précision l'épaisseur du matériau de la plaquette jusqu'à des niveaux de sous-microns. Les sondes électriques et les capteurs optiques de l'actif lui fournissent la précision et la portée pour détecter et signaler rapidement les anomalies matérielles jusqu'au niveau des sous-microns. Le modèle MAGNETRON 2000 dispose également de capacités avancées de traitement des données et de rapports. L'architecture logicielle embarquée de l'équipement comprend des algorithmes qui permettent au système de fournir des performances en temps réel, générant rapidement et avec précision des rapports détaillés. Le logiciel permet également à l'utilisateur de contrôler et d'ajuster les différents paramètres et paramètres de l'appareil, ce qui permet une expérience de test de plaquettes sur mesure. Avec une large gamme d'options sélectionnables par l'utilisateur, MAGNETRON/CLIOTEK 2000 fournit une solution complète et personnalisable de test de plaquettes et de métrologie. La machine est conçue pour être robuste et fiable, ce qui lui permet de traiter rapidement les données et de générer des rapports complets dans les environnements de test les plus difficiles.
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