Occasion MDC CSM #77224 à vendre en France

MDC CSM (Model Driven Control Chip Equipment Metrology) est un système d'essai et de métrologie de plaquettes développé par EWI Advanced Metrology & Manufacturing Technology. Cette unité est une plate-forme de métrologie de précision avancée composée d'un bras de métrologie programmable intégré, d'un logiciel pilote d'inspection et de contrôle automatisé des processus, et d'outils d'analyse d'images et de bibliothèque de mesures. Le bras de métrologie de la machine est composé d'un solide outil de coordonnées statique et dynamique à 5 axes avec une grande polyvalence pour l'acquisition et le contrôle de données (DAC). L'outil d'inspection pilote, par contre, est conçu pour aider l'utilisateur à accéder aux paramètres de données du processus, à tester la performance de la plateforme et à assurer un contrôle complet du processus. Avec ses composants de pointe, le modèle offre une solution fiable et de haute précision pour les tests de plaquettes et les applications de mesure. Le mécanisme de contrôle de l'acquisition des données (DAC) permet aux utilisateurs de contrôler la vitesse et la direction de balayage de la tête de sonde à travers la surface de la plaquette. Cela aide à obtenir des mesures fiables qui sont utilisées pour d'autres analyses et traitements. Le système comprend également un mécanisme de balayage automatique offrant une plus grande flexibilité à l'utilisateur en lui permettant de définir et de programmer la taille des étapes. L'unité CSM dispose également d'une bibliothèque d'analyse d'image avancée. Cette bibliothèque est équipée d'outils automatisés d'analyse et de mesure d'images, ainsi que d'algorithmes de reconnaissance et d'évaluation d'objets basés sur des images. Ces caractéristiques permettent aux utilisateurs d'évaluer automatiquement les résultats des essais et d'obtenir des mesures critiques de manière rapide et précise ; réduire ainsi le temps nécessaire à l'obtention de données fiables. En outre, la machine propose également divers logiciels pour extraire les mesures et les cartographier avec précision sur des modèles CAO. De plus, le logiciel de contrôle automatisé des processus permet aux utilisateurs de programmer rapidement l'outil pour divers processus de plaquettes, ainsi que de concevoir des protocoles de test personnalisés. Enfin, l'actif est livré avec de vastes outils de gestion des données et d'analyse statistique conçus pour répondre aux besoins actuels et futurs en matière d'analyse des données. Dans l'ensemble, MDC CSM est un modèle complet d'essai de wafer et de métrologie offrant aux utilisateurs des capacités robustes d'acquisition et de contrôle de données. Avec ses composants de pointe, cet équipement offre une précision, une fiabilité et une polyvalence supérieures pour soutenir une large gamme d'applications de test et de mesure des plaquettes.