Occasion MDC ECM 98 PL #293618598 à vendre en France

ID: 293618598
Style Vintage: 2001
Automatic CV plotter Running: 1000 Components/Hour 2001 vintage.
MDC ECM 98 PL est une plate-forme de test et de métrologie avancée conçue pour le contrôle de la qualité des dispositifs semi-conducteurs. La machine fournit une mesure et une analyse automatisées uniques, et est capable de manipuler un large éventail de produits de wafer, du MEMS à la logique avancée. L'équipement MDC ECM 98PL dispose d'une configuration automatisée en ligne pour un débit rapide. Il peut gérer jusqu'à 98 plaquettes par niveau, avec jusqu'à quatre niveaux par système, ce qui donne un débit total de 392 plaquettes par heure. Cette unité est conçue pour supporter une variété de configurations d'essai, y compris des tests photo-électroniques et électriques, ainsi qu'une variété de mesures de métrologie, telles que CD/épaisseur, contrainte, scanner optique et profondeur de gravure. La machine contient plusieurs modules de test et de métrologie, qui travaillent ensemble pour fournir des résultats rapides et fiables. Il offre un large choix de têtes de mesure, y compris des options monocanal et multi-canal. Les têtes de mesure multi-canaux offrent l'avantage de mesurer simultanément différents paramètres en même temps, permettant des solutions de test et de mesure plus efficaces. L'outil dispose également d'un robot guidé par vision avancée, qui localise avec précision et prélève des plaquettes pour les tests. Atout ECM 98 PL offre un certain nombre de fonctionnalités utiles pour les tests à haut débit. Il comprend un programme de marquage des défauts qui permet de détecter rapidement de minuscules défauts et d'effectuer une analyse précise, ainsi qu'un modèle de vérification des wafer pour l'identification et le suivi précis des produits de wafer. De plus, l'unité de stockage de données fournit un stockage et une récupération pratiques des données de test, permettant aux utilisateurs de trouver rapidement l'information dont ils ont besoin. L'équipement dispose également d'un logiciel de pointe, conçu pour rationaliser les opérations de test et de métrologie. Il offre des options de contrôle intuitives, ainsi qu'une gamme complète d'outils d'analyse et de capacités d'interprétation des données. Ce logiciel est également compatible avec de nombreux programmes de test reconnus par l'industrie et des algorithmes d'extraction de fonctionnalités, fournissant des capacités d'analyse de données robustes. Dans l'ensemble, ECM 98PL fournit une plate-forme de test et de métrologie avancée, conçue pour gérer des tests complexes dans un environnement rapide et fiable. Il fournit une gamme complète d'outils matériels, logiciels et d'analyse pour permettre des opérations de test et de métrologie complètes. Plus important encore, il fournit les performances et la précision nécessaires pour les opérations d'assurance qualité des dispositifs semi-conducteurs exigeants d'aujourd'hui.
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