Occasion MDC SEN-576 #9104438 à vendre en France

MDC SEN-576 Wafer Testing and Metrology Equipment est une plate-forme de métrologie de haute précision conçue pour effectuer des tests de wafer et de métrologie avancés. Il combine plusieurs technologies de métrologie spécialisées telles qu'une sonde à 6 points, l'analyse d'image SEM et l'analyse de diffraction des rayons X dans un seul instrument. SEN-576 est composé d'un système multi-chambres comportant une chambre principale contenant un manipulateur, un scanner et un étage, et trois chambres supplémentaires pour loger un mécanisme de test électrique, une unité de reconnaissance optique de caractères (OCR) et une machine de collecte de données. Le manipulateur de la chambre principale est robotisé et spécialement conçu pour effectuer un positionnement précis et efficace de l'échantillon, minimisant ainsi les dommages subis par l'échantillon de plaquette lors de la procédure de test. Le scanner intégré dans l'outil est également robotique, et peut être utilisé pour l'image de différentes régions de plaquettes avec une répétabilité précise. L'étage de la chambre principale est une unité motorisée avec des capacités de haute précision et d'accélération dans le sens X et Y, qui peut capturer les coordonnées exactes des échantillons de plaquettes et la répétabilité pour diverses mesures. Le matériel de test électrique intégré dans la deuxième chambre de MDC SEN-576 est composé de plusieurs sondes et instruments de mesure électriques. Ce modèle est équipé d'une sonde à 6 points, qui est un outil de métrologie de contact spécifique. Il est utile pour mesurer les caractéristiques électriques sur une large gamme d'échantillons de plaquettes, telles que la résistance, la fuite de courant, et le claquage diélectrique. L'équipement OCR de la troisième chambre est utilisé pour la reconnaissance d'algorithmes. Enfin, la quatrième chambre dispose d'un système de collecte et de contrôle de données qui comporte un processeur de signal numérique (DSP) et un logiciel spécial. Cette unité permet l'acquisition et l'analyse de données en temps réel, permettant le test automatisé d'échantillons de plaquettes. En résumé, SEN-576 Wafer Testing and Metrology Machine est une plate-forme multi-chambres conçue pour mesurer les caractéristiques électriques, les caractéristiques optiques et la forme des plaquettes. La plate-forme dispose d'un manipulateur, d'un scanner et d'un étage dans la chambre principale, d'une sonde à 6 points, d'un outil de collecte de données basé sur le processeur de signal numérique (DSP) avec un logiciel spécial, d'un actif OCR et d'autres composants. L'architecture modulaire et robotique de MDC SEN-576 garantit un test avancé et précis des plaquettes semi-conductrices d'une manière fiable et répétable.