Occasion MEYER BURGER JVX 6200 #9262023 à vendre en France

MEYER BURGER JVX 6200 est un équipement avancé de métrologie et d'essai de plaquettes conçu pour répondre aux exigences de l'industrie des semi-conducteurs. Ce système polyvalent et de haute précision est capable de mesurer les paramètres du dispositif, la topographie, la superposition et les caractéristiques électriques d'un large éventail de substrats, y compris LT, HVM et HVLT IC. Le JVX 6200 offre plusieurs fonctionnalités avancées. Il dispose de neuf têtes de métrologie/test interchangeables, chacune équipée de plusieurs détecteurs offrant une résolution latérale et verticale combinée de 20nm. Le microscope de l'unité est également capable de capturer des images haute résolution des défauts et des caractéristiques d'une plaquette en utilisant la résolution latérale et verticale standard de 5nm. La tête de test haute tension fournit des tests électriques précis pour le développement rapide du produit. En outre, MEYER BURGER JVX 6200 comprend un dispositif automatisé avant test module qui utilise des algorithmes de vision pour aider à identifier et monter la structure de plaquette pour le test. Sa machine automatique de vision automatique est capable de reconnaître et de placer les puces dans le dispositif correctement pour le test, contribuant à réduire le temps d'installation et à améliorer la fiabilité. L'outil propose également une procédure d'étalonnage automatique à deux axes pour aligner précisément la plaquette avec le microscope et s'assurer que les balayages optiques sont capturés avec précision. JVX 6200 utilise également une méthode propriétaire d'extrusion-profilage pour fournir des mesures de topographie de surface rapides et précises. MEYER BURGER JVX 6200 comprend également une variété de fonctionnalités logicielles conçues pour faciliter et améliorer le fonctionnement. Ces caractéristiques comprennent le réglage d'image en temps réel, le réglage automatique de la plage de mesure, l'annotation, le filtrage des données, plusieurs niveaux de hiérarchie et une large gamme d'options de format et d'exportation. JVX 6200 est une solution efficace et puissante pour les essais de dispositifs semi-conducteurs et les applications de métrologie. Il offre diverses fonctionnalités avancées, telles que l'appareil automatisé avant le test, l'étalonnage à deux axes et l'extrusion-profilage, tout en utilisant une interface logicielle intuitive et conviviale. Cet atout est conçu pour aider les utilisateurs à répondre aux exigences exigeantes des applications de haute technologie.