Occasion MICRO-TEC Z-CHECK 500 #9010808 à vendre en France

ID: 9010808
Non-contact thickness measuring system Measuring range: 10mm On screen images Features: (3) micron typical accuracy in Z axis measurement White light source Granite base Monochrome monitor Specifications: Magnification: x50. Options available Digital readout: 0.001mm (0,0001inch) Projector lamp: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Surface illuminator: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Max sample height: 10mm (0,4 inch) Throat depth: 240mm (9.5 inch) Granite base size: 500mm x 500mm (20 x 20 inch) CTV: 1/3” CCD Camera: 9” monochrome monitor Power: 240V AC 50/60Hz. - 110V AC 50/60Hz. (optional).
MICRO-TEC Z-CHECK 500 est un équipement de test et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour les techniques de manipulation et de mesure des plaquettes les plus récentes. Le système utilise des technologies brevetées qui sont à la fois compactes et légères, le rendant accessible à un large éventail d'utilisateurs. Sa conception robuste fournit une excellente précision et fiabilité, fournissant des résultats précis à chaque test. Z-CHECK 500 wafer testing and metrology unit est une machine modulaire capable de tester des wafers de 12 pouces ou 5 pouces, avec une épaisseur maximale de 7mm. L'outil peut mesurer une variété de propriétés, y compris l'épaisseur du film et la densité cellulaire, ainsi que des propriétés plus complexes telles que la non-uniformité, la topographie et la superposition. L'utilisation précise de l'optique donne à l'atout la capacité de mesurer des plaquettes à l'arrière sans avoir besoin d'un support de substrat. Le modèle est livré avec une variété de fonctionnalités, telles que la station de sonde, qui maintient la plaquette de test en place et fournit un contrôle de mouvement, un Wafer Handler unité pour libérer la plaquette, et l'unité d'affichage pour la visualisation des données. Le MICRO-TEC Z-CHECK 500 comprend également un kit de métrologie Wafer avancé, un outil puissant mais convivial qui est livré avec une variété d'applications de cartographie et de mesure. Ce kit permet aux utilisateurs de définir un large éventail de paramètres et de conditions, donnant à Z-CHECK 500 la capacité de mesurer une variété de caractéristiques micro-structurées de surface. L'équipement fournit également aux utilisateurs une interface graphique conviviale (interface graphique). L'interface graphique offre une variété d'outils pratiques, y compris un menu déroulant intuitif, permettant aux utilisateurs de localiser rapidement l'outil dont ils ont besoin. Cette fonctionnalité permet également aux utilisateurs de visualiser les données enregistrées, ainsi que les diagnostics, les procédures et les résultats des tests. MICRO-TEC Z-CHECK 500 wafer testing and metrology system est un appareil incontournable pour ceux qui cherchent à mener leur analyse de wafer au niveau suivant. Construit avec des caractéristiques avancées, l'unité offre des résultats précis et fiables pour même les mesures les plus complexes.
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