Occasion MICROTRAC S3500 #9222240 à vendre en France

MICROTRAC S3500 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour mesurer les caractéristiques physiques, électriques et géométriques des wafers semi-conducteurs. Le système utilise une gamme complète de techniques de caractérisation pour mesurer avec précision les caractéristiques des plaquettes avec une haute résolution et précision. Ces techniques comprennent la microscopie à diffusion optique 3D, le profilage des capacités (CP) et la microscopie électrique à balayage (ESM). Les capacités logicielles hautement intégrées de l'unité automatisent la procédure de mesure et d'analyse, réduisant les efforts requis par l'utilisateur, minimisant les coûts et maximisant l'assurance de la qualité. L'interface logicielle conviviale de la machine rend les processus de métrologie et de mesure avancés simples et faciles à exécuter. Pour la microscopie à diffusion optique, MICROTRAC S 3500 dispose d'une analyse d'image automatisée qui mesure rapidement et avec précision les profils de topographie, de rugosité de surface, de hauteur de pas, de limite de grain et de courbure de bord. La technique CP intégrée applique un schéma de grille de tension à la surface de la plaquette et recueille des données électriques relatives à l'épaisseur de la couche d'oxyde de silicium, à la topographie de la plaquette et au profil des diélectriques de grille en nitrure de silicium. Ces données aident ensuite à fournir des informations essentielles sur la qualité de la surface, l'uniformité, la forme des caractéristiques et d'autres paramètres critiques des dispositifs. La technique ESM utilise une direction de balayage pour mesurer la conductivité électrique à travers la surface et obtenir des données sur divers défauts et irrégularités. Cette technique possède également une fonction de détection automatisée des défauts qui permet d'analyser les images et de détecter les déplacements avec une grande précision. Dans l'ensemble, S3500 est une solution idéale pour les essais avancés de plaquettes et de métrologie. Cet outil permet aux utilisateurs d'analyser et de caractériser rapidement et avec précision les plaquettes semi-conductrices et de fournir des données très précises qui peuvent être utilisées pour optimiser les processus de fabrication, améliorer la qualité des produits et assurer la fiabilité des appareils.