Occasion MICROTRAC S3500 #9258846 à vendre en France

MICROTRAC S3500 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour mesurer et analyser les structures à micro-échelle. Le système combine un large éventail de méthodes de métrologie, destructives et non destructives, pour assurer une caractérisation de haute précision des structures à micro-échelle utilisées dans la fabrication de circuits intégrés. MICROTRAC S 3500 est une unité de balayage multi-axes configurée avec une machine d'entraînement linéaire XYZ, un éclairage haute puissance, et un outil d'imagerie capable de capturer plusieurs types de données, y compris optiques, électriques, thermiques et acoustiques. L'atout d'imagerie optique permet aux chercheurs de capturer des images de structures microscopiques sur des plaquettes à des résolutions allant jusqu'à 4 µm. Il utilise des techniques d'imagerie en champ lumineux et en champ sombre pour une visibilité maximale des structures. Les mesures électriques utilisent des sources de courant et de tension continues et alternatives pour mesurer la conductivité, la panne et la résistance de contact. Les composants thermiques mesurent la température des structures des plaquettes, ce qui permet aux chercheurs d'analyser avec précision les propriétés thermiques de divers matériaux. Le modèle comprend également une suite complète de logiciels spécialement conçus pour les applications de métrologie. Le logiciel offre une gamme de capacités d'analyse et de modélisation de données, allant du calcul de paramètres de base à la cartographie 3D avancée et aux simulations au niveau des défauts. Cela permet aux chercheurs d'analyser rapidement leurs données et de mieux comprendre les caractéristiques critiques, telles que la largeur des lignes, la résistance au contact et la conductivité thermique. S3500 est un outil indispensable pour l'industrie des semi-conducteurs, aidant les chercheurs à concevoir, analyser et optimiser des structures microéchelles avancées. Sa puissante combinaison de matériel et de logiciels permet aux chercheurs de mesurer, d'analyser et de visualiser des structures complexes avec des niveaux de précision et de précision sans précédent.