Occasion MILLBROOK MiniSIMS #9097796 à vendre en France

MILLBROOK MiniSIMS
ID: 9097796
Style Vintage: 2005
System Quadruple mass spectrometer Software Manuals 2005 vintage.
MILLBROOK MiniSIMS est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour des applications avancées de contrôle de processus semi-conducteurs. Le système permet une évaluation rapide, précise et fiable des plaquettes semi-conductrices et des dispositifs individuels. Ce puissant outil de métrologie est équipé d'un microscope électronique à balayage avancé (SEM) ainsi que d'une large gamme d'options et d'accessoires pour répondre aux besoins de tout client. L'unité offre un niveau de débit sans précédent pour tester simultanément des plaquettes simples ou un lot de plaquettes. Il est capable d'effectuer plusieurs opérations d'analyse et de capture d'image à l'aide de détecteurs multiples qui permettent l'intégration des données du SEM, la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) et l'imagerie. MiniSIMS est dédié à l'analyse de couches de dispositifs, interfaces et défauts dans tous les types de dispositifs semi-conducteurs et optoélectroniques en utilisant une gamme complète de techniques spécialisées de capture d'images. La machine MILLBROOK MiniSIMS fournit une analyse précise d'une large gamme de structures de dispositifs modernes, y compris des transistors, des diodes, des MOSFET et des dispositifs optoélectroniques. Il permet aux utilisateurs d'acquérir des images à différents grossissements en fonction des paramètres de la plaquette. Les informations de ces images peuvent ensuite être utilisées pour évaluer la qualité de la structure, localiser les défauts et ajuster les paramètres du processus pour une performance optimale. Il offre également un utilitaire de reconnaissance de motifs très précis qui identifie rapidement les types de défauts tels que les raccourcis de masque, les ponts, les valeurs d'isolement et les raccourcis sans aucune interaction manuelle. L'outil est équipé du dernier atout Siemens-Kulite EDS qui améliore les capacités analytiques du modèle. Il permet une analyse chimique et structurelle des dispositifs à une vitesse élevée qui contribue à améliorer l'efficacité, la flexibilité et les temps de réponse. En outre, l'équipement permet aux utilisateurs de profiter d'un filtrage adaptatif du bruit et d'algorithmes sophistiqués de traitement d'image. Dans l'ensemble, le système MiniSIMS est une solution idéale pour les applications avancées de contrôle des processus et offre aux clients l'analyse très précise nécessaire pour des tests et une métrologie efficaces. Cette unité fournit aux utilisateurs une évaluation fiable des plaquettes semi-conductrices et des appareils individuels avec un niveau de haute précision et de débit que les systèmes de pointe du marché ont du mal à apparier.
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