Occasion MITUTOYO SJ-301 #293616958 à vendre en France

MITUTOYO SJ-301 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour mesurer des caractéristiques difficiles sur des plaquettes semi-conductrices et d'autres grandes surfaces. Le système est capable de scanner de grandes plaquettes et de mesurer la forme, la taille, la hauteur, et d'autres caractéristiques de leurs composants. L'unité peut également mesurer des paramètres électriques tels que la résistance, la capacité et l'inductance. La machine est équipée d'un capteur d'inspection CCD ultra-haute vitesse, qui permet une mesure haute précision et haute vitesse sur différentes surfaces. Le capteur est équipé de plusieurs caméras, ce qui le rend apte à mesurer des zones extrêmement petites avec une résolution inférieure à 100 nanomètres. L'outil est également équipé d'une solution de métrologie avancée qui est capable de mesurer des distances extrêmement faibles sans s'appuyer sur une règle mécanique. SJ-301 offre également une routine de suivi virtuel 3D qui permet le balayage de surfaces arbitraires avec un haut degré de précision. L'actif est idéal pour de nombreuses mesures liées aux semi-conducteurs en raison de sa précision et précision accrues. Il est également utilisé pour calibrer et nettoyer les machines, la surveillance des processus, et même l'analyse 3D automatisée. De plus, MITUTOYO SJ-301 peut être utilisé comme appareil de balayage pour mesurer des formes de masques. Afin d'assurer des mesures précises, le modèle est équipé d'une option de mesure de vecteurs multi-axes. Cette fonctionnalité permet des mesures plus rapides et des retours en temps réel. En outre, l'équipement dispose d'une fonction de réglage automatique qui lui permet de s'ajuster au matériau et de se conformer à des hauteurs et des angles différents. En outre, son interface graphique avancée rend le système plus simple à utiliser, permettant même à des non-experts de prendre des mesures précises. SJ-301 est une unité d'essai et de métrologie de plaquettes idéale pour produire des mesures de haute précision et de haute qualité de grandes surfaces dans une variété d'industries. Sa précision, sa vitesse et sa facilité d'utilisation en font un outil inestimable pour de nombreuses applications liées aux semi-conducteurs.