Occasion MITUTOYO SJ-400 #9409431 à vendre en France

ID: 9409431
Surface roughness profilometer.
MITUTOYO SJ-400 Wafer Testing and Metrology Equipment est conçu comme une solution tout-en-un pour les inspections de qualité des composants à base de wafer. Le système dispose de capacités d'inspection AC et DC, ainsi que d'une unité d'inspection des plaquettes de contact. La machine DC utilise le balayage sans contact et utilise un codeur linéaire de haute précision et le lecteur pour capturer les points de données de profil individuellement, donnant à l'utilisateur la possibilité d'inspecter les caractéristiques détaillées et les temps. L'outil CA fournit une variété de composants optiques et de fixations pour mesurer des propriétés telles que la forme, la rugosité et la texture. MITUTOYO SJ 400 wafer testing and metrology asset utilise la technologie de l'image et du mouvement pour collecter les données des wafers. Les processeurs d'images de haute précision permettent des mesures automatiques, tandis que le positionnement quadruple de la table linéaire assure une acquisition précise des données. Une sonde à stylet de contact contrôlée par un codeur de haute précision balaie le profil de la plaquette pour une mesure précise de la hauteur, de la largeur et du pas des bosses, des nervures et d'autres caractéristiques. Les données de balayage peuvent également être utilisées pour déterminer les textures de surface et les défauts. SJ-400 dispose également d'une saisie, d'un stockage et d'une analyse automatiques des données. Le logiciel intégré fournit des métriques et des rapports graphiques, permettant à l'utilisateur d'identifier facilement les tendances et de quantifier la variabilité. Le modèle utilise à la fois des affichages graphiques et numériques, avec des fonctions de tendance des données et d'analyse statistique. En outre, SJ 400 peut interagir avec des logiciels tiers pour la conversion et l'analyse de données. MITUTOYO SJ-400 est un équipement modulaire qui peut être personnalisé pour une variété d'applications. Les options comprennent un microscope haute résolution, une unité d'inspection visuelle, un interféromètre laser et d'autres composants optiques. La haute précision et la répétabilité du système en font un outil précieux pour les essais de plaquettes dans les industries des semi-conducteurs et de l'électronique. L'unité est également idéale pour les applications médicales et dentaires, car elle permet des inspections précises et détaillées d'une grande variété de composants.
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