Occasion MITUTOYO SJ-401 #9267193 à vendre en France

MITUTOYO SJ-401 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour mesurer avec précision les propriétés électriques, physiques et optiques des wafers semi-conducteurs. Le système offre une imagerie haute résolution et la mesure précise des plaquettes jusqu'à 200mm de taille. Avec son unité optique avancée, SJ-401 est capable de détecter et de mesurer même les plus petites tailles de caractéristiques sur une plaquette. MITUTOYO SJ-401 est équipé d'une caméra rotative 360 °, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images ultra-haute résolution des surfaces planes et non planaires des plaquettes. Une étape d'échantillonnage intégrée est contrôlée par une machine de surveillance de position, éliminant le mouvement de l'échantillon dû à des changements environnementaux. En outre, l'unité est capable de balayage rapide, permettant une évaluation de propriété rapide et fiable de la plaquette. SJ-401 est équipé d'un outil informatique puissant capable de fournir des résultats très précis. L'actif est capable d'identifier des propriétés telles que la topographie, la réflectivité et les caractéristiques de la rugosité de surface ainsi que l'analyse des défauts. Ce modèle est également capable de stocker les résultats de mesure dans une base de données pour une analyse plus approfondie. MITUTOYO SJ-401 est également compatible avec une grande variété d'accessoires qui permettent une efficacité encore plus grande. Il peut s'agir d'unités de travail interférentielles, d'objectifs montés sur scène, de systèmes de vision de plaquettes et de divers manipulateurs de robots industriels. Dans l'ensemble, SJ-401 permet aux utilisateurs de détecter et d'analyser avec précision et précision une large gamme de propriétés des plaquettes. Avec son équipement optique avancé et son ordinateur puissant, le système offre une grande vitesse, une facilité d'utilisation et une précision inégalée lors des essais et de la métrologie des surfaces des plaquettes.