Occasion MITUTOYO SJ-402 #9227881 à vendre en France

MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Equipment fournit des capacités de test et de mesure précises pour une gamme d'applications de test et de mesure de semi-conducteurs. Le système utilise un étage de microscope à balayage à grande vitesse X-Y pour fournir l'imagerie et la mesure sur une plaquette de 4 pouces, et intègre une table Z à faible vibration d'axe 1 qui facilite les mesures 3D-leveling et AFM. De plus, l'unité comprend une interface automatisée de traitement et d'analyse de l'image, pour une analyse et une mesure rapides basées sur l'image, ainsi qu'un ensemble robuste de périphériques de test et de mesure automatisés. Les capacités d'imagerie et de mesure de la machine fournissent une architecture avancée pour la capture et l'analyse d'images de haute précision. Cela le rend approprié pour les essais et analyses microstructuraux. Le matériel de mesure de la figure de mérite est conçu pour la détection et la mesure précises des résistances électriques, de la capacité et de l'inductance. L'outil prend également en charge l'analyse de la gigue et de la largeur des impulsions et d'autres paramètres haute fréquence. SJ-402 asset fournit des fonctionnalités de traitement d'image et d'analyse puissantes qui sont fortement optimisées pour la précision et la précision. L'interface automatisée de traitement et d'analyse d'images du modèle exploite des algorithmes spécialisés pour la reconnaissance de motifs, l'extraction de caractéristiques, la segmentation d'images robustes, le diagnostic par masque, la périodicité, l'alignement de précision et d'autres fonctions pour permettre la métrologie fractale. La puissante fonction de stabilisation d'image permet à l'équipement de tenir compte des variations de fond. Le système comprend une suite de périphériques de test et de mesure automatisés pour faciliter la mesure précise et rapide des paramètres électriques. L'unité comprend des testeurs de résistance automatisés, des ponts de capacité, des analyseurs d'inductance, des compteurs de courant haute résolution AC/DC et des planeurs de précision. Ces composants permettent de mesurer avec précision une variété de paramètres électriques et sont conçus pour être utilisés avec un équipement d'essai automatisé et une gamme de sondes électriques. L'architecture flexible du logiciel machine permet d'effectuer des mesures à la fois personnalisées et paramétriques avec rapidité et précision. L'outil comprend une interface visuelle conviviale pour la navigation d'outils d'image et de données. L'interface utilisateur intuitive permet un réglage rapide des paramètres et permet également de concevoir des systèmes optimaux pour des applications spécifiques. Dans l'ensemble, MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Asset offre une plateforme fiable et polyvalente pour tester et mesurer rapidement un large éventail de matériaux et de composants électriques. Ce modèle est idéal pour les applications de test et de mesure à semi-conducteur, fournissant des mesures précises des paramètres électriques et des capacités d'imagerie précises.