Occasion MITUTOYO SJ-411 #9267192 à vendre en France

MITUTOYO SJ-411 est un équipement puissant et capable d'essais de plaquettes et de métrologie. Il est utilisé pour mesurer et inspecter la structure, la composition et les caractéristiques électriques de différents types de plaquettes semi-conductrices. La principale caractéristique du système est sa capacité à mesurer, évaluer et analyser les caractéristiques d'une large gamme de plaquettes semi-conductrices, dont le monocristallin, le polycristallin, le ppep gravé, le MEMS, le CMOS et le FD-SOI. SJ-411 offre d'excellentes performances dans l'analyse des diverses propriétés d'une plaquette telles que la composition, la structure cristalline, la topographie, les caractéristiques électriques, la vitesse de gravure et les caractéristiques courant-tension. MITUTOYO SJ-411 a une tête de mesure capacitive (CMH) très sensible qui peut mesurer les propriétés électriques de la plaquette jusqu'à une résolution de 1 nanomètre. Il est également équipé d'un amplificateur à faible bruit avec une dynamique de mesure allant jusqu'à 65 mV. Cela permet la résolution et la précision requises pour des mesures précises. En outre, l'unité dispose d'un ensemble de métrologie laser qui est équipé d'un microscope pour des mesures de topographie de surface de haute précision. Cet emballage peut mesurer jusqu'à une résolution de 5 nanomètres. SJ-411 dispose également d'une machine de détection automatisée, qui peut détecter des motifs lithographiques aussi petits que 0,25 microns. Cette caractéristique permet une inspection rapide de structures très fines sur la surface de la plaquette. Une autre caractéristique notable de l'outil est son progiciel avancé qui permet une analyse et une inspection complètes de la structure de la plaquette. Le logiciel analyse et classe automatiquement diverses caractéristiques de la surface de la plaquette, permettant une analyse rapide des données. Dans l'ensemble, MITUTOYO SJ-411 est un outil de test et de métrologie avancé et fiable. Il peut mesurer et analyser la structure, la composition et les propriétés électriques de différents types de plaquettes semi-conductrices avec une précision et une précision impressionnantes. Ses caractéristiques avancées facilitent l'inspection rapide et précise des plaquettes, permettant un contrôle de qualité cohérent.