Occasion MITUTOYO YC-H260 #9267188 à vendre en France

MITUTOYO YC-H260 Wafer Testing & Metrology Equipment est un outil innovant pour les tests diagnostiques et l'analyse de matériaux IC avancés (circuit intégré). Il est conçu pour mesurer et inspecter les échantillons avec la plus grande précision et répétabilité. YC-H260 est un outil massif qui contient deux composants principaux, l'Optoscanner, et le système de ventilateur ID. L'Optoscanner est composé de plus d'une centaine d'unités d'imagerie avancées avec un ensemble d'étages XY automatisé. Cela lui permet de mesurer et d'inspecter les plaquettes traitées et les plaquettes de silicium nues avec une précision inégalée. L'unité IDfan est constituée d'un réseau de têtes optiques et de détecteurs qui sont utilisés pour obtenir le maximum de précision dans la métrologie de la structure semi-conductrice. Cela permet aux utilisateurs d'inspecter même les plus petites fonctionnalités, leur permettant de détecter des défauts qui autrement ne seraient pas détectés par d'autres méthodes. MITUTOYO YC-H260 comprend également des logiciels spécialisés qui permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement les résultats et d'obtenir des statistiques rapidement et avec précision. Ce logiciel comprend des paquets de métrologie statistique, des outils d'analyse d'image, la reconnaissance des étiquettes, le comptage des particules et des fonctions d'évaluation de surface. Cela permet aux utilisateurs d'analyser efficacement les données, leur permettant de repérer rapidement les zones problématiques et d'optimiser les performances de leurs puces. En outre, YC-H260 comprend une variété d'options environnementales qui permet de simuler facilement un large éventail de conditions. Cela permet aux utilisateurs de tester la performance et la fiabilité de leurs composants dans diverses conditions environnementales, telles que des températures chaudes ou froides. De plus, MITUTOYO YC-H260 dispose d'un fonctionnement convivial grâce à une interface tactile intuitive qui facilite la navigation dans les menus et le fonctionnement de la machine. Cela permet même aux utilisateurs inexpérimentés d'apprendre rapidement comment utiliser l'outil et tirer le meilleur parti de leur investissement. Au total, YC-H260 Wafer Testing & Metrology Tool est un outil précieux pour diagnostiquer et améliorer les composants semi-conducteurs. En proposant une imagerie avancée, une précision répétable, une analyse statistique et une simulation environnementale fiable, les utilisateurs disposent d'un outil pratique pour améliorer la performance et la fiabilité de leurs composants.