Occasion MTI Proforma 300 #9269084 à vendre en France

MTI Proforma 300 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de premier plan conçu pour mesurer et inspecter avec précision les wafers. Le système dispose d'un design modulaire de 300mm qui est facilement évolutif, assurant qu'il reste à jour avec les derniers développements en matière de test des plaquettes. L'unité Proforma 300 est basée sur la technologie électromécanique brevetée sans contact (déplacement nominal 0,1 µm) pour la détection des défauts de surface et la topographie. La machine comprend une caméra numérique de capture d'image, tête de balayage, matériel vidéo et logiciel. La MTI Proforma 300 utilise un étage 6 axes pour fournir une plage de course de 200mm et 200mm de hauteur pour permettre des mesures précises sur n'importe quelle plaquette. L'outil de détection de défauts Proforma 300 utilise un réseau de lasers pour détecter les défauts de taille micron, la rugosité de surface, les irrégularités de placement de puce et toute autre non-uniformité dans la structure de la plaquette. En combinant l'imagerie laser et infrarouge, l'actif peut détecter et mesurer des défauts d'une large gamme de tailles, de 0,1 µm à 500 µm. Le logiciel intégré stocke et traite les données défectueuses pour analyse et évaluation. Le MTI Proforma 300 dispose également d'un modèle de cartographie 3D avancé. Cet équipement fournit une représentation graphique 3D haute résolution (sonde Z) de la surface de la plaquette, permettant aux utilisateurs d'identifier rapidement les défauts potentiels, les irrégularités structurelles et autres non-uniformités. Le système peut capturer jusqu'à 800 000 points de mesure pour une analyse détaillée. En outre, l'unité Proforma 300 dispose de capacités de métrologie avancées, fournissant une mesure de haute précision des paramètres de la plaquette tels que les largeurs de ligne, les dimensions critiques, le pas et l'écart médian. La machine prend également en charge le fonctionnement dans une variété d'environnements de test, y compris le benchtop, la salle blanche et SEMI Operators Console check. Dans l'ensemble, la MTI Proforma 300 propose des essais complets de wafer et de métrologie pour diverses industries. L'outil est idéal pour découvrir les imperfections, les irrégularités structurelles et d'autres non-uniformités dans les plaquettes, permettant aux utilisateurs d'identifier et de traiter rapidement tous les problèmes.