Occasion MVI AV-6010 #9148600 à vendre en France

L'équipement MVI AV-6010 Wafer Testing and Metrology offre une gamme puissante de technologies qui peuvent être utilisées pour évaluer soigneusement l'épaisseur du dépôt de film, la profondeur de gravure et la planéité globale de la plaque. Le système offre un balayage et une détection métriques automatisés et multidirectionnels avec six techniques de mesure distinctes pour une précision et un débit inégalés. AV-6010 est disponible avec une variété d'options d'automatisation pour augmenter le débit et améliorer la répétabilité. L'unité dispose d'un contrôleur de processus intégré avec un échantillonneur numérique à 6 zones de haute précision pour la collecte d'échantillons. Cela permet des balayages rapides à différentes vitesses d'alimentation des plaquettes pour une efficacité améliorée. Le contrôleur de mouvement intégré prend également en charge plusieurs positions de sonde et un balayage multidirectionnel, donnant aux opérateurs la flexibilité de choisir le motif de balayage qui convient le mieux à leur processus. MVI AV-6010 fournit un profilage optique de pointe grâce à une combinaison d'imagerie lumineuse visible et de profilométrie optique. Cette combinaison permet de cartographier à la volée et d'analyser les caractéristiques topographiques à la surface d'une plaquette. Le profilage optique peut être utilisé pour mesurer le profil d'une plaquette entière, ou simplement des régions spécifiques pour évaluer l'épaisseur et l'uniformité des dépôts de couches minces. La machine offre également des tests de décapage/gravure, un processus automatisé qui peut être utilisé pour évaluer la protection d'une plaquette contre d'autres couches de films subséquents. Ceci est particulièrement utile pour des procédés tels que l'électrodéposition qui nécessitent plusieurs couches de film. AV-6010 intègre une puissante plateforme logicielle intelligente qui contrôle tous les paramètres du processus de test et d'analyse automatisé. Cette plate-forme permet une programmation personnalisable et fournit des données de tendance qui peuvent être utilisées pour tracer les résultats d'un test dans le temps. En résumé, l'outil MVI AV-6010 Wafer Testing and Metrology fournit une gamme complète de technologies qui peuvent être utilisées pour évaluer avec précision et rapidement les dépôts de films, la profondeur de gravure, la planéité et la cartographie topographique. C'est une solution idéale pour les fabricants et les installations de recherche qui ont besoin d'un moyen rapide et fiable d'évaluer la qualité de leur processus de fabrication de plaquettes.