Occasion N&K 1512 #293755557 à vendre en France

ID: 293755557
Style Vintage: 2010
Thin film measurement system 2010 vintage.
Le N&K 1512 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de précision, conçu pour mesurer et analyser une large gamme de plaquettes semi-conductrices et de couches minces. Le système est composé d'une série de composants qui fournissent ensemble des capacités complètes de métrologie en laboratoire et dans les applications industrielles. 1512 est composé d'une unité de mise en scène biaxe qui peut être utilisée pour positionner avec précision et précision les plaquettes à leur emplacement souhaité, ainsi que d'une grande machine d'imagerie haute résolution qui permet de photographier de grandes surfaces des plaquettes. Cet outil d'imagerie est capable de détecter des caractéristiques aussi petites que 5nm de taille. La partie caméra de l'actif est capable de capturer à la fois des images de lumière optique couleur et monochromatique polarisée, permettant d'effectuer une variété de mesures différentes. En outre, il peut être utilisé pour vérifier les défauts et l'uniformité sur la plaquette. Les composantes d'imagerie du modèle sont complétées par un module AFM (Atomic Force Microscopy) qui peut être utilisé pour mesurer la topographie de la surface de la plaquette, en fournissant les dimensions et les formes des caractéristiques verticales et latérales. Le N&K 1512 est également équipé d'un module spectroscopique qui est utilisé pour mesurer à la fois l'épaisseur des couches minces et des plaquettes ainsi que son indice de réfraction. Il peut mesurer des épaisseurs de couches minces jusqu'à 1 nanomètre et des indices de réfraction aussi bas que 1,4. Cet équipement Analyseur composant du système permet aux utilisateurs d'effectuer une variété de mesures différentes sur les plaquettes, y compris des mesures de résistance des tôles, de capacité, d'épaisseur, de transmission et de résistivité. La composante analyseur est complétée par un logiciel avancé qui fournit une interface intuitive pour la saisie et la gestion des données, ainsi qu'un produit graphique complet pour diverses procédures d'essai et d'analyse. Dans l'ensemble, 1512 fournit une solution complète de test et de métrologie pour les plaquettes semi-conductrices et les couches minces. Les capacités d'imagerie complètes de l'unité, combinées à son composant analyseur et à son logiciel, permettent aux utilisateurs de mesurer rapidement et avec précision un large éventail de paramètres sur les plaquettes. Cette combinaison de composants rend la machine idéale pour les applications tant en laboratoire qu'industrielles.
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