Occasion N&K 1712-RT #9299902 à vendre en France

N&K 1712-RT wafer testing and metrology system est une plate-forme de métrologie automatisée avancée et à haut débit utilisée pour la caractérisation des wafers et autres substrats semi-conducteurs. Il offre des mesures puissantes des paramètres physiques, électriques et optiques, ainsi qu'un large éventail d'options de caractérisation, y compris des analyses vibrationnelles, structurelles, chimiques et thermiques. 1712-RT est conçu pour fournir des mesures rapides et répétables de la structure du dispositif, des propriétés des matériaux, des effets de température, des caractéristiques électriques, des propriétés optiques et diélectriques des plaquettes et autres substrats. Il offre également l'inspection des défauts sans contact et l'analyse des défauts pour s'assurer de la conformité du processus. Il est doté d'un alimentateur automatique d'échantillons très précis qui gère une grande variété de plaquettes et d'autres substrats, et a la capacité d'intégrer des processus d'inspection et d'analyse dans une station. N&K 1712-RT dispose d'une gamme de capacités de mesure, y compris la métrologie avancée pour les mesures de dimensions critiques et de hauteur de pas, la micrographie optique, l'analyse de la composition chimique et la cartographie des contraintes. Il permet également des mesures tridimensionnelles et l'imagerie transversale. En outre, il dispose d'un logiciel avancé de traitement du signal et d'analyse des données qui permet un profilage rapide et précis des structures de l'appareil, ainsi que le contourage et le découpage des profils. 1712-RT fournit des mesures précises et répétables avec une station d'essai. Ses capacités de capture, de visualisation et d'analyse de données en temps réel lui permettent de rapporter et d'analyser la variabilité de la die-to-die, permettant ainsi aux ingénieurs de suivre et de contrôler les processus de production en cours. Le système peut être utilisé pour l'analyse des défaillances et l'étude des causes profondes des matériaux, des structures et des processus les plus complexes. Son logiciel d'automatisation avancé fournit un flux de travail automatisé, qui simplifie la configuration et le fonctionnement tout en améliorant la sécurité des opérateurs. Il est également capable de gérer un large éventail de paramètres, ce qui en fait une solution polyvalente et flexible pour les mesures de routine et basées sur la recherche. Son large éventail de caractéristiques et de capacités en font l'outil parfait pour répondre aux exigences exigeantes des essais de plaquettes et de la métrologie.