Occasion N&K 1712-RT #9312850 à vendre en France

N&K 1712-RT est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu pour des essais rapides, précis et non destructifs de matériaux de wafer. Il dispose d'une variété de modules et de techniques de balayage, y compris la microscopie à force atomique (AFM) et l'interférométrie optique (FI), pour mesurer une variété de paramètres, y compris la déformation, la contrainte, la densité des défauts, la localisation des défauts, l'épaisseur du dépôt et le front d'onde. En analysant ces données, les utilisateurs peuvent dresser un tableau précis de la performance de la plaquette et de tout problème de fiabilité potentiel qui pourrait causer une défaillance. 1712-RT est un système complet capable de fonctionner dans plusieurs régions, avec plusieurs capacités de taille de matrice dans une unité. Il offre la possibilité de basculer rapidement entre différents paramètres d'analyse et types d'échantillons. La machine peut tester à la fois des échantillons de plaquettes minces et des échantillons de plaquettes épaisses avec une préparation minimale d'échantillons. L'outil mesure efficacement une variété de paramètres du bord à l'arrière de la plaquette avec une approche non destructive. N&K 1712-RT dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive pour ajuster les paramètres et stocker les résultats. Il dispose d'une suite d'analyses statistiques avancées qui permet aux utilisateurs de visualiser les résultats sous de multiples formes. En outre, l'actif offre une variété d'options de connectivité qui rendent possible la surveillance à distance et l'analyse de données sur plusieurs ensembles de données. Le modèle a amélioré le débit, la précision et la répétabilité. Il utilise des techniques de balayage AFM de grande surface et de précision pour examiner la topographie des échantillons de plaquettes et mesurer une variété de paramètres à partir de la surface. Cela aide à établir une vue plus complète des performances de la plaquette, aidant les clients à sélectionner les matériaux de plaquette les plus performants pour leurs applications. 1712-RT dispose d'une optique haut de gamme, de plates-formes de balayage et de composants. Il utilise des caméras haute résolution et des algorithmes propriétaires de balayage pour détecter rapidement et avec précision les défauts et autres anomalies sur la surface de la plaquette. L'équipement a également la capacité de stocker et d'analyser de grands ensembles de données, permettant aux utilisateurs d'étudier une variété de paramètres à la fois historiquement et en temps réel. N&K 1712-RT est un système d'essai et de métrologie fiable et de haute qualité pour les matériaux de wafer. Il a la capacité de prendre des mesures rapides et précises, stocker des ensembles de données, analyser les résultats sous de multiples formes, et détecter les défauts et d'autres problèmes sur la surface de la plaquette. Sa précision, sa répétabilité et son débit sont excellents, ce qui en fait un excellent choix pour ceux qui ont besoin de résultats fiables qui répondent à leurs exigences strictes.