Occasion N&K 3300 #9378632 à vendre en France

N&K 3300 Wafer Testing and Metrology Equipment est une machine haute performance qui peut mesurer rapidement et avec précision les propriétés électriques des wafers. Il dispose d'une combinaison de composants matériels, de logiciels et d'une gamme de capteurs pour créer une solution de test efficace de bout en bout. Le cœur du système est un scanner laser miniaturisé et des capteurs à double force qui mesurent l'ampleur et la direction des forces à la surface de la plaquette. Cela permet à l'unité de saisir rapidement les caractéristiques des propriétés électriques et de générer un rapport détaillé sur les performances de la plaquette. La machine est équipée d'une gamme d'outils logiciels conçus pour améliorer la précision et la rapidité du processus de test. Le logiciel permet aux opérateurs de surveiller les performances des appareils, d'étalonner la mesure des données et d'automatiser les tâches courantes. Le logiciel comprend également une gamme d'algorithmes et d'analyses qui permettent aux opérateurs d'identifier plus facilement les domaines problématiques ou les tendances des performances de la plaquette. Pour aider les opérateurs à prendre des décisions éclairées, l'outil contient également une suite intégrée d'analyses de données qui comprend de puissants outils d'analyse de données, tels que des graphiques de diffusion et des compteurs de performance. Il a également la capacité de générer des rapports sur les performances des plaquettes individuelles. Cela aide les opérateurs à identifier rapidement tout problème et à effectuer les ajustements nécessaires. Enfin, l'actif est également équipé d'une gamme de dispositifs de sécurité pour protéger les opérateurs contre les radiations, les poussières et d'autres dangers tout en travaillant avec des plaquettes. La machine intègre également un certain nombre de caractéristiques avancées, comme un capteur de vibrations acoustiques, qui assure la sécurité de tous les intervenants. Dans l'ensemble, 3300 wafer testing and metrology model est un équipement automatisé extrêmement puissant et efficace qui est conçu pour aider les opérateurs à mesurer et à surveiller les performances des wafers rapidement et avec précision. Le système est construit avec une combinaison de matériel avancé et de logiciels qui assure une précision et une fiabilité maximales. Cela rend l'unité idéale pour ceux qui ont besoin de mesurer la performance des plaquettes pour une variété d'applications.