Occasion N&K 5700CDRT #9247004 à vendre en France
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ID: 9247004
Style Vintage: 2005
Resist thickness measurement system
For photomask
Broadband spectrometer
Spot size: R 50um, T <400um
Spectral range: 190-1000nm
Trench profile
Patented micro-spot measurement technology
All-reflective optical based system
Square masks, 5"-6"
Phase, TR
2005 vintage.
L'équipement N&K 5700CDRT est un système d'essai et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour des mesures extrêmement précises de la topographie des plaquettes. Cet instrument avancé et fiable fournit des données complètes sur la topographie des plaquettes, telles que la rugosité de surface, la hauteur des marches, la taille des grains et d'autres paramètres. 5700CDRT unité d'essai et de métrologie des plaquettes est basée sur une technique de déflectométrie de type scan. Cette méthode innovante permet à la machine de mesurer avec précision les différentes caractéristiques topographiques d'une plaquette de manière efficace et rapide. L'outil peut mesurer un large éventail de caractéristiques topographiques, telles que la rugosité de surface, la hauteur des marches, les terrasses et plus encore. N&K 5700CDRT est équipé d'un miroir à balayage rapide qui se déplace rapidement dans le trajet du faisceau pour mesurer avec précision les différentes caractéristiques topographiques d'une plaquette. 5700CDRT outil de test et de métrologie de wafer utilise également un modèle d'interférométrie laser avancé pour générer des données topographiques extrêmement fiables et précises. Cet équipement combine interférométrie hors axe et interférométrie sur axe pour analyser avec précision le profil du front d'onde de l'échantillon testé. Avec cette technologie de pointe, N&K 5700CDRT peut mesurer simultanément la rugosité et la hauteur de la surface de la plaquette, et donner les résultats avec une résolution exceptionnelle de 1-2 nanomètres. En outre, 5700CDRT est un appareil extrêmement convivial. Il dispose d'une interface de panneau tactile facile à utiliser qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement le système, d'ajuster les paramètres et d'obtenir des résultats détaillés avec un minimum d'effort. Outre son interface conviviale, l'unité supporte encore d'autres interfaces de communication telles que Ethernet ou RS232. Il est également livré avec une capacité d'enregistrement de données souple pour faciliter le téléchargement et l'analyse des résultats des tests. Dans l'ensemble, N&K 5700CDRT est une machine d'essai et de métrologie de plaquettes fiable et robuste qui fournit des mesures précises et précises de la topographie des plaquettes. Grâce à sa technique avancée de déflectométrie de type scan, il peut mesurer rapidement et de manière fiable un large éventail de caractéristiques topographiques, d'une surface de plaquette. En outre, il est également livré avec une interface utilisateur intuitive qui le rend facile à utiliser. Dans l'ensemble, cet outil est un excellent outil pour mesurer les caractéristiques topographiques des plaquettes de manière efficace et précise.
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