Occasion NANO SYSTEM 3025 CIS #9153476 à vendre en France

NANO Equipment 3025 CIS (Compact Inspection System) est une unité d'essai et de métrologie de plaquettes haute performance conçue pour la fabrication de puces semi-conductrices. Cette machine a été développée pour permettre des tests efficaces et fiables de petites et nouvelles technologies, telles que les plaquettes, les circuits intégrés (IC) et les transistors à couches minces (TFT). L'outil est conçu pour mesurer les caractéristiques électriques de ces composants, telles que les résistances, les capacités et les fuites de courant. 3025 CIS est conçu pour mesurer avec une grande précision et vitesse, ainsi que pour aider à réduire le temps et les coûts de personnel. Sa précision est capable de mesurer avec une grande précision sur différentes pièces, y compris les composants dont la taille est inférieure à 0,03 mm. Par rapport à d'autres systèmes d'inspection, cet atout est doté d'une caméra numérique CCD et d'un microscope optique LED combinés, avec une focalisation 3D qui améliore encore la précision de ses mesures. Le dispositif est également équipé d'un laser très sensible et d'un dispositif de mesure pour l'inspection du produit. Cette caractéristique est généralement utilisée pour détecter toute zone ou défaut anormal sur le composant. Par exemple, il peut détecter des limites de grains, des shorts électriques, et tout autre objet étranger sur la plaquette. Il a également la capacité d'identifier les vides, les fissures, et warpage. NANO Model 3025 CIS dispose d'une communication directe par ordinateur, avec une interface utilisateur qui permet à l'utilisateur de contrôler pleinement le fonctionnement de l'équipement. Il est capable de stocker et de rappeler des recettes et de tester des paramètres pour une meilleure performance. De plus, le système est très compatible avec différents langages de programmation tels que C et C++, ce qui le rend idéal pour le développement et l'optimisation des processus de production. L'appareil fournit également des fonctionnalités puissantes telles que son enregistreur de données intégré et sa capacité à compléter avec d'autres systèmes d'inspection. En outre, l'unité est alimentée par un panneau tactile intuitif et est interconnectée à ses bases de données pour une meilleure performance. Enfin, il est entièrement conforme à plusieurs normes de test de qualité telles que IPC-A-610E, IPC-6010, ISO 9001:2015, ANSI/ESD S20.20, J-STD-001 et UL/IEC/EN 6238. Dans l'ensemble, 3025 CIS est une machine polyvalente d'essai de plaquettes et de métrologie conçue pour obtenir une plus grande précision avec ses caractéristiques intégrées. C'est un dispositif idéal pour le contrôle de la qualité et les processus de développement de la production de composants semi-conducteurs.