Occasion NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463 à vendre en France

NANO Equipment NVM-3025 CIS est un système d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour tenir compte des exigences commerciales et industrielles en matière de métrologie de précision. Fabriqué par NANO Unit, ce tout-en-un performer est capable de tests et de métrologie de bas et haut niveau des plaquettes semi-conductrices. NVM-3025 CIS a un certain nombre de caractéristiques qui le rendent idéal pour un certain nombre d'applications, y compris les suivantes : Imagerie haute résolution : NANO Machine NVM-3025 CIS est conçu pour fournir une résolution d'image jusqu'à 5 μ m par pixel, permettant une inspection précise des dispositifs semi-conducteurs. Ceci peut être utilisé pour tout, de l'analyse de la longueur de grille du transistor à la caractérisation de la profondeur de gravure. Caractérisation automatique de la rugosité de surface : Cet outil est capable de mesurer des paramètres tels que la rugosité de surface, la topologie de surface et l'épaisseur en quelques secondes seulement. Cela en fait l'outil parfait pour le contrôle des processus et l'analyse des défauts. Balayage à grande vitesse : NVM-3025 Interface intuitive CIS et balayage à grande vitesse peuvent effectuer un balayage de wafer, analyser des données, et fournir des résultats en seulement 18 secondes. Cette capacité permet aux utilisateurs d'identifier rapidement les problèmes liés à l'optimisation des processus, à l'inspection des défauts critiques et à d'autres applications. Combinaisons multiples d'outils : NANO Asset NVM-3025 CIS peut accepter des combinaisons à plusieurs étapes pour faciliter des tâches de métrologie complexes. Le modèle peut être utilisé avec un certain nombre d'outils spécialisés, y compris des rugueuses de surface, des systèmes microscopiques, des interféromètres, et d'autres pour permettre un large éventail de capacités d'essai. Contrôle micro-niveau à plusieurs niveaux : NVM-3025 La CEI utilise des systèmes de contrôle micro-niveau à plusieurs niveaux pour faciliter des résultats de métrologie précis. Cet équipement permet un fonctionnement précis et la mesure des paramètres critiques afin que le système puisse fournir des résultats précis et reproductibles. Automatisation de l'assurance qualité : NANO Unit NVM-3025 CIS est programmé avec des protocoles d'automatisation qui aident à l'assurance qualité des données de test au niveau des plaquettes. La machine robuste peut analyser les résultats en temps réel et alerter le personnel immédiatement lorsqu'une anomalie est détectée. NVM-3025 CIS est un choix idéal pour la métrologie de précision des plaquettes semi-conductrices. Son imagerie haute résolution, sa vitesse de balayage rapide et ses protocoles d'automatisation finement ajustés en font un outil inestimable sur le plancher de production.