Occasion NANOMETRICS Atlas II+ #293636675 à vendre en France

NANOMETRICS Atlas II + est un outil d'essai et de métrologie de plaquettes qui utilise l'optique avancée et l'électronique pour mesurer les propriétés des plaquettes semi-conductrices telles que la topographie de surface, l'épaisseur d'oxyde et la résistivité. Avec la capacité d'inspecter et d'analyser jusqu'à 8 pouces de plaquettes, ce système est en demande pour le développement d'appareils et le contrôle avancé des processus. Le système est composé d'une plate-forme de métrologie de pointe, qui comprend un scanner X-Y automatisé, un microscope d'imagerie et des capteurs laser haute performance. Le scanner x-y permet un positionnement précis de la plaquette sur l'étage de microscope et l'alignement précis de la tête de mesure. Une gamme d'objectifs d'imagerie permet à l'utilisateur d'obtenir des images de différents niveaux de détail sur la plaquette. La technologie avancée de détection laser mesure l'épaisseur de la membrane et du film, ainsi que les détails topographiques sur la plaquette qui peuvent ne pas être visibles à l'œil nu. Toutes les mesures sont acquises en microns et stockées comme points de données numériques. Cela facilite l'évaluation rapide de paramètres tels que l'épaisseur de l'oxyde, la dimension critique et la résistivité. Le logiciel qui accompagne Atlas II + affiche des images, des graphiques de données et des contrôles de processus de métrologie. Il comprend également des algorithmes de focalisation automatique pour rationaliser le processus de mesure et minimiser les erreurs de l'opérateur. Le système ouvre un monde de possibilités en test de plaquettes et en métrologie. Avec NANOMETRICS Atlas II +, les développeurs d'appareils peuvent rapidement identifier les problèmes et apporter des corrections rapidement, réduisant le temps et le coût de production. Les capacités avancées de contrôle des processus aident à s'assurer que les opérations de production de masse sont conformes aux exigences de spécification.