Occasion NANOMETRICS Atlas II+ #9242231 à vendre en France

NANOMETRICS Atlas II + wafer testing and metrology equipment est un outil précis, fiable et efficace pour caractériser les propriétés électriques et physiques des wafers dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système offre une large gamme de modules intégrés pour effectuer différents types d'analyse, y compris la métrologie physique, les essais électriques, les essais logiques et paramétriques, l'analyse des défauts électriques et la métrologie physique au niveau des plaquettes. L'unité est construite autour d'un étage multi-axes motorisé qui contrôle précisément la manutention de la plaquette. Cette étape est capable de contrôler et de positionner le mouvement avec précision pour la cartographie des plaquettes, la localisation des défauts et l'analyse grain/surface. L'étage est également robuste et stable, permettant à la machine de travailler dans une variété de conditions de salle blanche. En outre, l'outil dispose de deux systèmes optiques distincts pour améliorer la résolution et la précision de mesure. Les caractéristiques d'inspection flexible d'Atlas II + comprennent des paramètres d'essai électriques et des mesures telles que la température, la tension, le courant, la charge, la capacité, l'inductance et la résistance. L'actif offre également de puissants outils d'analyse pour interpréter les données mesurées, ce qui contribue à accélérer le processus de métrologie physique. Pour l'imagerie haute résolution, le modèle peut utiliser divers modes d'inspection optique, tels que l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, l'imagerie par contraste de phase et la microscopie électronique à balayage. L'équipement est compatible avec de nombreuses plaquettes de métrologie et a la capacité de modifier ses paramètres au besoin pour tenir compte de tout changement de matériau, de conditions de traitement ou de caractéristiques des plaquettes. En outre, NANOMETRICS Atlas II + permet à l'utilisateur d'adapter l'analyse souhaitée, et toutes les données collectées peuvent être stockées dans une base de données pour faciliter la recherche et l'analyse. Ainsi, Atlas II + est un système de métrologie puissant et efficace qui fournit aux utilisateurs une large gamme de capacités pour effectuer des tests électriques, physiques et logiques sur des plaquettes. Sa grande précision, combinée à des mesures flexibles, son fonctionnement intuitif et sa capacité de base de données en font un outil indispensable dans l'industrie des semi-conducteurs.