Occasion NANOMETRICS Atlas #9270884 à vendre en France

NANOMETRICS Atlas est un équipement d'essai et de métrologie en plaquettes conçu pour la mesure et la caractérisation des matériaux et dispositifs semi-conducteurs. Il se compose d'une plate-forme logicielle de pointe, d'un microscope à balayage sous-nanométrique et de divers composants sophistiqués de mesure et de caractérisation. Le logiciel fournit à l'utilisateur une interface graphique facile à utiliser (interface utilisateur graphique) pour contrôler les paramètres du système, naviguer dans l'échantillon inspecté, développer des flux de travail et visualiser les données collectées. La plateforme permet aux utilisateurs de mesurer n'importe quoi de la topographie aux propriétés électriques à n'importe quelle résolution arbitraire, à la fois 2D et 3D. Il supporte une gamme d'outils d'analyse standard tels que le traitement d'image, le profilage de ligne et la reconnaissance de fonctionnalités avancées lui permettant d'effectuer une variété de mesures et de caractérisations. Le microscope utilisé dans Atlas a une portée de balayage allant jusqu'à 150 mm, une résolution latérale de 0,11 µm et une précision allant jusqu'à 8 nm. Il dispose d'une conception brevetée E-SEM (Energy Enhanced Scanning Electron Microscope), qui permet aux utilisateurs de capturer des images topographiques et électriques. Le microscope est optimisé pour le balayage de haute précision et la reconnaissance des fonctionnalités. NANOMETRICS Atlas peut caractériser une variété de matériaux à différents stades de traitement. Il tient compte des différents paramètres susceptibles d'influer sur le résultat, tels que la conductivité électrique du matériau, sa capacité électrique, le courant de fuite et d'autres paramètres. Il offre également un ensemble complet de capteurs et de sondes comprenant des capteurs de contraintes optiques et des sondes d'ellipsométrie à balayage. Toutes les mesures et caractérisations recueillies sont stockées sur l'unité et peuvent être affichées dans différents formats, y compris le tableau, le graphique et l'histogramme. En outre, la machine peut afficher des mesures plus avancées telles que des images topographiques et électriques, à la fois 2D et 3D. Dans l'ensemble, Atlas offre une plate-forme facile à utiliser pour mesurer et caractériser une variété de matériaux semi-conducteurs à différents stades de traitement. Il utilise un logiciel sophistiqué, un microscope à balayage avancé et une large gamme de capteurs et de sondes, qui permettent à l'utilisateur de recueillir les informations nécessaires à une analyse plus approfondie. Les données collectées peuvent ensuite être affichées dans des formats graphiques clairs, ce qui permet aux utilisateurs de mieux comprendre leurs conceptions de composants.