Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 #293761942 à vendre en France

NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7
ID: 293761942
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2009
Metrology systems, 8" 2009 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7 est un équipement avancé d'inspection automatisée des masques et des plaquettes conçu pour évaluer l'intégrité des circuits intégrés à grande échelle (LSI). Il utilise la technologie d'imagerie optique avancée et l'analyse basée sur le cloud pour inspecter les composants de masque et de plaquette en temps réel. Le système dispose également de métrologie logicielle et de capacités avancées d'analyse des défauts. ACCENT Q7 est équipé d'une technologie d'imagerie optique haute résolution pour inspecter avec précision les surfaces des masques et des plaquettes pour détecter un large éventail de défauts. La technologie d'imagerie fonctionne en combinaison avec une unité d'analyse d'imagerie par ordinateur pour détecter rapidement tout problème potentiel. De plus, la machine a la capacité d'étudier les défauts de niveau microscopique au niveau de l'appareil. L'outil peut être configuré pour répondre à de multiples besoins d'inspection. Par exemple, il peut être utilisé pour l'inspection de routine des masques et des plaquettes, ainsi que pour l'audit de production et le débogage d'ingénierie. Il peut même surveiller les caractéristiques du processus pour l'amélioration et l'optimisation du processus. L'actif supporte une gamme de formats de plaquettes, ce qui lui permet d'être utilisé sur toute la gamme de tailles de plaquettes. BIO-RAD Q7 dispose également d'un modèle de métrologie entièrement intégré, avec support pour des fonctions de métrologie avancées telles que la mesure de l'épaisseur des couches, le profilage de hauteur et l'inspection des dimensions critiques. Ses capacités de métrologie guidées par la vision sont très précises, fournissant des résultats fiables et reproductibles. De plus, l'équipement prend en charge une gamme de classifications de défauts, aidant à identifier et classer rapidement toute anomalie détectée. Enfin, le Q7 permet aux ingénieurs et au personnel de contrôle de la qualité d'avoir accès à des outils détaillés d'analyse et de signalement des défauts. Cela les aide à identifier la cause profonde du défaut ou à prévenir la récurrence si le même défaut est détecté dans plusieurs dispositifs. En outre, le système est livré avec une interface utilisateur complète, permettant aux utilisateurs d'accéder facilement et de configurer toutes les fonctions de l'unité. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Q7 est une machine avancée conçue pour inspecter rapidement et précisément les masques et les plaquettes. Ses capacités d'imagerie haute résolution, sa métrologie puissante et ses outils d'analyse intégrée des défauts permettent d'assurer le bon déroulement de l'ensemble du processus de fabrication.
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