Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 #293763617 à vendre en France

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe. Ce système automatisé aide les fabricants à détecter les contaminants et les imperfections susceptibles d'entraîner des défauts dans la production de dispositifs semi-conducteurs. ACCENT Q7 est piloté par un logiciel BIO-RAD Q7 propriétaire de l'unité d'inspection. Ce logiciel utilise des algorithmes de pointe pour détecter rapidement, avec précision et sans intervention de l'opérateur. Q7 se compose de quatre composants principaux : un microscope, une caméra, une tête d'imagerie, et le logiciel. Le microscope, qui est le core- de la machine, est construit à l'aide de XGA Digital Optics qui peut être utilisé pour détecter et zoomer sur les images microscopiques d'une plaquette ou d'un masque. Un appareil photo numérique haute résolution spécialement développé est également présenté dans NANOMETRICS Q7 pour capturer l'image de la plaquette ou du masque. La tête d'imagerie de NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7 est l'interface utilisateur graphique qui permet aux utilisateurs de configurer les paramètres de l'outil tels que le contraste d'image, la gamme de couleurs et les niveaux de zoom. Le logiciel utilisé par ACCENT Q7 utilise des algorithmes sophistiqués pour détecter et quantifier les types d'imperfections les plus rigoureuses. Les algorithmes permettent de déterminer la taille et l'intégrité structurelle des particules, la rugosité de la surface et les caractéristiques des fissures. Le logiciel BIO-RAD Q7 dispose en outre d'un mode 3D qui permet aux utilisateurs d'inspecter les fonctionnalités même lorsqu'elles ne sont pas mises au point. Les utilisateurs peuvent également utiliser le logiciel pour effectuer l'inspection des marques, l'analyse des caractéristiques et la classification des défauts. En outre, le logiciel d'intégration qui est livré avec Q7 offre aux utilisateurs des capacités efficaces de gestion des données et de visualisation. Les données peuvent être exportées sous divers formats, ce qui permet aux utilisateurs d'effectuer des analyses plus approfondies telles que le contrôle statistique des processus et la reconnaissance des modèles. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Q7 est un outil d'inspection complet et polyvalent, permettant aux utilisateurs de détecter et de quantifier les défauts les plus exigeants. Cela en fait un outil inestimable pour les entreprises impliquées dans la production de dispositifs semi-conducteurs, les aidant à réduire leurs taux de défauts de produit.