Occasion NEC IR 2110 #187284 à vendre en France

NEC IR 2110
ID: 187284
Style Vintage: 2003
Testing system 2003 vintage.
NEC IR 2110 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour le contrôle des processus à haut volume dans l'industrie des semi-conducteurs. IR 2110 est un système modulaire entièrement automatisé capable de mesurer avec précision des puces de différentes tailles et orientations. L'unité dispose d'une grande capacité de mesure comprenant le traitement d'images, les essais électriques et les mesures optiques. En utilisant NEC IR 2110, les utilisateurs peuvent mesurer rapidement et avec précision les caractéristiques de performance de leurs IC complexes, y compris la taille, la forme, le profil 3D, les caractéristiques optiques, les paramètres électriques et les propriétés mécaniques. La machine fonctionne sous vide pour des mesures précises et une répétabilité élevée, avec des résultats excellents et reproductibles. IR 2110 est un outil puissant et polyvalent, capable de mesurer un grand nombre de fonctionnalités et de paramètres définis par l'utilisateur. Il est également capable d'effectuer une mesure rapide et précise de l'image sans contact. Sa technologie d'imagerie de pointe comprend des capacités de détection et de portée de la lumière (LIDAR), lui permettant de mesurer un large éventail de caractéristiques rapidement et précisément en trois dimensions. L'outil est équipé d'un atout d'imagerie infrarouge (IR), permettant des mesures précises dans une large gamme de longueurs d'onde NIR. Ce modèle fournit des capacités d'imagerie haute performance et de profilage de profondeur, qui sont utiles dans la mesure des fonctionnalités de puce. Cet équipement est également équipé d'un système d'imagerie avancé, permettant de mesurer une large gamme de paramètres électriques tels que la tension de grille, la tension de seuil et les caractéristiques courant-tension. Pour les applications de métrologie, l'unité est équipée d'une machine de mesure optique pour donner des résultats précis pour l'analyse topographique et la vérification de la mise en page. Avec sa grande précision, sa vitesse, sa stabilité et sa capacité à mesurer la surface et le volume des plaquettes, NEC IR 2110 est idéal pour la métrologie dans l'industrie des semi-conducteurs. IR 2110 est un outil idéal pour la mesure, le contrôle et l'analyse de précision des puces dans l'industrie des semi-conducteurs. C'est un outil efficace, précis et fiable qui permet aux utilisateurs de maximiser leurs performances de fabrication et leur rendement. Avec ses capacités d'imagerie, de test et de métrologie avancées, NEC IR 2110 est un excellent outil pour répondre à toutes les exigences de contrôle des processus.
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