Occasion NIKON AM-601D #293645645 à vendre en France
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NIKON AM-601D est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe conçu principalement pour mesurer les propriétés topographiques nanométriques de surface des matériaux. Il est composé d'un système de positionnement intégré multi-axes, d'un ensemble objectif contenant une optique, d'un détecteur et de l'électronique nécessaire pour détecter le signal du détecteur. Cette unité est capable d'acquérir avec des cartes 3D haute résolution des images de la surface dans les axes x, y et z. La machine de positionnement multi-axes est équipée de paliers à air haute vitesse qui sont montés sur une structure de base à double étage en Y inversé. Pour une précision élevée, on utilise un palier à air à collimation maximale pour réduire toute erreur possible. Cet outil de positionnement peut être couplé avec un tracjet de pièce ou un portique pour une plus grande plage de mouvement. L'ensemble objectif est construit pour assurer la résolution la plus élevée possible. Ceci est réalisé grâce à l'utilisation de l'objectif NIKON propriétaire de haute ouverture numérique qui est intégré à un bras optique magnétiquement blindé. Ceci assure une plate-forme optique stable avec une grande précision, tout en maintenant un chemin optique propre et non dispersif. Le détecteur est un détecteur CCD robuste et non destructif. Le détecteur CCD est monté dans un environnement thermiquement et vibrationnellement converti vers le bas, assurant la stabilité de la surface d'imagerie. Le détecteur CCD est monté très proche de l'objectif assurant un rapport signal sur bruit élevé. L'actif NIKON AM 601D est un modèle de test et de métrologie de plaquettes très avancé. Il est conçu pour fournir le plus haut niveau de précision, de précision et de répétabilité, ce qui le rend idéal pour une large gamme d'applications de mesure de topographie nanométrique de surface. L'équipement est capable de produire des images de surface à haute résolution jusqu'à 2 μ m avec une répétabilité sous-nanométrique. Il offre une vitesse de balayage allant jusqu'à 80 μ m/s, avec des mesures rapides et des temps de balayage courts. Le système est conçu pour une grande variété de matériaux tels que les métaux, les semi-conducteurs, les verres et les plastiques. AM-601D est un choix idéal pour des applications de recherche et développement dans le domaine de la métrologie optique.
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