Occasion NIKON AM-601D #9225401 à vendre en France

L'équipement NIKON AM-601D Wafer Testing and Metrology fournit des données fiables et précises provenant de votre processus semiconducteur. Ce système avancé est conçu pour mesurer une variété de paramètres liés à la micro-structuration et à la composition chimique des plaquettes semi-conductrices avancées. L'unité est équipée d'une combinaison unique d'outils de métrologie optique de pointe qui sont utilisés pour mesurer les structures des plaquettes sur les micro et nano échelles. L'interface graphique intuitive vous permet de configurer rapidement une tâche de métrologie souhaitée et de vous assurer que les mesures sont exactes et répétables. La machine utilise un outil hautement automatisé pour le positionnement et la manipulation des plaquettes qui améliore le débit et réduit l'erreur humaine. Le processus automatisé de numérisation et de saisie des données assure des mesures précises et cohérentes des plaquettes. L'actif de microscope confocal double laser est conçu pour mesurer une variété de caractéristiques sur les plaquettes et est couplé à une puissante suite logicielle pour une analyse rapide des résultats. Le modèle comprend également un équipement SEM/EDS intégré pour une analyse plus détaillée des plaquettes au niveau atomique. Le système NIKON AM 601D Wafer Testing and Metrology est conçu pour être utilisé dans les lignes de fabrication de semi-conducteurs. Il est capable d'effectuer une gamme de mesures de simple à complexe en un temps relativement court. Les données sont recueillies et analysées avec précision en quelques minutes. L'unité est très fiable et utilise des composants de haute précision pour garantir des données exactes et reproductibles. La machine est également équipée d'une suite logicielle avancée, permettant de personnaliser facilement diverses tâches de métrologie et fournissant une analyse détaillée des résultats d'analyse des plaquettes. AM-601D Wafer Testing and Metrology outil est idéal pour ceux qui recherchent un outil fiable et précis pour leur processus semi-conducteur. Ce puissant atout peut être utilisé pour mesurer rapidement une variété de paramètres, vous permettant de maximiser vos rendements de processus. Le modèle est conçu pour être facile à utiliser et à entretenir, ce qui en fait un outil inestimable dans n'importe quelle ligne de fabrication.