Occasion NIKON FX-501F #293620093 à vendre en France

NIKON FX-501F Wafer Testing and Metrology Equipment est une technologie polyvalente et puissante utilisée dans les fabricants et laboratoires de semi-conducteurs du monde entier. Cette technologie haut de gamme est conçue pour mesurer, inspecter et analyser les structures de surface et internes des plaquettes, puces et autres composants semi-conducteurs. Le système combine deux technologies de pointe - une unité de mesure de surface 2D et une machine de mesure 3D die-to-database - pour donner des résultats précis et fiables, même avec des plaquettes et des micropuces complexes. FX-501F utilise une combinaison de filtres optiques et de miroirs pour mesurer avec précision les différentes caractéristiques topographiques et géométriques des microstructures. L'outil peut détecter les petits défauts de surface et mesurer la largeur, la longueur, la hauteur et les irrégularités à la surface du dispositif. L'actif a également la capacité de détecter toute non-uniformité au moyen d'un certain nombre de méthodes différentes, y compris le microscope à contraste interférentiel différentiel (DICM), le microscope ellipsométrique (EM), l'identification de crête spectrale (SPI) et l'inspection des emballages de semi-conducteurs (IPC). L'étage avancé de 6 axes du modèle permet des mesures de précision et l'imagerie 3D. L'étage se déplace dans les trois axes et est guidé par des moteurs pas à pas de grande précision, offrant des mesures à grande vitesse avec haute résolution et répétabilité. De plus, NIKON FX-501F utilise des optiques avancées, comme le balayage par faisceau laser, ce qui augmente la précision et la vitesse d'analyse. Cet équipement fournit également des tests fiables avec répétabilité et automatisation, ce qui en fait un choix idéal pour l'inspection des plaquettes et la métrologie des semi-conducteurs. FX-501F offre également un certain nombre de fonctions d'analyse et de rapport de données, ce qui en fait une solution efficace et efficiente pour les essais de plaquettes et la métrologie. Il comprend plusieurs fonctions d'analyse avancées, telles que l'analyse du contrôle statistique des processus (RCP), l'analyse de six sigmes, la reconnaissance et la classification automatisées des surfaces (RCSA) et l'analyse automatisée de la base de données. Les utilisateurs peuvent également ajouter des rapports personnalisés avec des données en temps réel, vous donnant un contrôle maximal sur vos résultats de mesure. Dans l'ensemble, NIKON FX-501F Wafer Testing and Metrology System est une technologie puissante et fiable utilisée pour les essais, l'inspection et l'analyse des wafers. Il fournit des résultats très précis et reproductibles, ainsi qu'un large éventail de fonctions d'analyse et de communication de données. Avec ces fonctionnalités avancées, FX-501F est idéal pour les fabricants de semi-conducteurs et les laboratoires.