Occasion NIKON X6PF-UBD #9148549 à vendre en France

NIKON X6PF-UBD est un équipement d'essai et de métrologie de wafer de pointe destiné aux installations de fabrication de semi-conducteurs. X6PF-UBD offre un ensemble complet de caractéristiques pour faciliter les essais et les processus de mesure approfondis des plaquettes. Ce système dispose d'une table de travail grand format avec un étage de rotation multi-axes pour aligner avec précision la plaquette pour les essais et les opérations de métrologie. L'unité dispose également d'une machine optique avancée avec un appareil photo numérique haute résolution, ainsi que d'une unité de balayage laser intégrée pour une analyse plus poussée. Ces composants sont tous logés dans un boîtier métallique robuste pour les protéger des influences extérieures. NIKON X6PF-UBD propose également une gamme d'outils logiciels puissants pour automatiser et rationaliser l'acquisition et l'analyse de données. Cela comprend une suite logicielle complète pour l'acquisition de données, y compris la capture d'images, l'analyse de données et la génération de rapports. L'outil prend également en charge l'accès à distance, permettant aux équipes de gestion des données d'accéder à l'actif de n'importe où avec une connexion Internet. En plus des fonctionnalités d'optique et d'imagerie robustes du modèle, le X6P fournit aux utilisateurs des outils pour automatiser et accélérer le processus de test. L'équipement dispose d'un bras de sonde intégré qui peut se déplacer précisément dans toutes les directions et soulever/abaisser des échantillons pour les essais. Cela permet aux utilisateurs de tester rapidement et avec précision un grand nombre d'échantillons, réduisant ainsi le temps et le coût des tests. Le X6PD-UBD est une solution fiable et puissante d'essai de plaquettes et de métrologie. Sa combinaison de fonctions d'imagerie robustes, d'outils de test automatisés, de logiciels d'acquisition et d'analyse de données et de capacités d'accès à distance en font un choix idéal pour les installations de fabrication de semi-conducteurs à la recherche d'un système avancé et rentable de test de plaquettes et de métrologie.